晶体管开关特性
双极型晶体管反相器
- 判断是否饱和: I B > I B S I B S = I C S β I C S = V C C − V C E S R C = V C C R C I_B>I_{BS}\\[2ex]I_{BS}=\frac{I_{CS}}{\beta}\\[2ex]I_{CS}=\frac{V_{CC}-V_{CES}}{R_C}=\frac{V_{CC}}{R_{C}} IB>IBSIBS=βICSICS=RCVCC−VCES=RCVCC
- 饱和深度: S = I B β S=\frac{I_{B}}{\beta} S=βIB
晶体管反相器负载能力
- 灌电流负载: 当输出为低电平时, I L I m a x ≤ β I B − I R C = β I B − E C R C I_{LImax}\leq\beta I_{B}-I_{R_C}=\beta I_B-\frac{E_C}{R_C} ILImax≤βIB−IRC=βIB−RCEC. 当输出为高电平时, 灌电流不影响
- 拉电流负载: 当输出为高电平时,
I
L
O
m
a
x
≤
I
R
c
=
E
C
−
(
E
q
+
v
D
)
R
c
I_{LOmax}\leq I_{R_c}=\frac{E_C-(E_q+v_D)}{R_c}
ILOmax≤IRc=RcEC−(Eq+vD)
当输出为低电平时, 拉电流不影响.
TTL集成逻辑门
- 开门电平 V O N V_{ON} VON: 开门电平是保证 V T 4 VT_4 VT4饱和导通, 与非门达到稳定输出低电平时的最小输入高电平, V O N V_{ON} VON越接近 V T H V_{TH} VTH, 器件噪声容限越大, 抗干扰能力越强.
- 关门电平 V O F F V_{OFF} VOFF: 关门电平时保证 V T 4 VT_4 VT4截至, 使与非门的输出为高电平的最小值时, 对应允许输入低电平的最大值. V O F F V_{OFF} VOFF越接近 V T H V_{TH} VTH, 器件噪声容限越大, 抗干扰能力越强.
- 噪声容限
V
N
L
,
V
N
H
V_{NL}, V_{NH}
VNL,VNH:
V N H = V O H m i n − V O N V N L = V O F F − V O L m a x V_{NH}=V_{OHmin}-V_{ON}\\ V_{NL}=V_{OFF}-V_{OLmax} VNH=VOHmin−VONVNL=VOFF−VOLmax - 扇出系数: 一个逻辑门能够驱动同类型逻辑门的个数, 用
N
o
N_o
No表示.
注: 计算可驱动TTL与非门数量时, 应考虑输入电流与端口数的关系. 对于某3输入端口TTL与非门来说, 若3个与输入端都是低电平, 则 R 1 R_1 R1上电压不变, 电流不变, 流到三个发射极的总电流不变, 即每个输入端的输入电流为原来的1/3. 当3个输入端都为高电平时, 由于每个等效晶体管的发射机有各自的电流通路, 每个输入端的高电平电流与单个输入端为高电平时的电流相同. 对于或非门, 无论高低电平均需考虑端口数量
R L ≤ V C C ′ − V O H m i n n I O H + m I H R_L\leq \frac{V_{CC}'-V_{OHmin}}{nI_{OH}+mI_H} RL≤nIOH+mIHVCC′−VOHmin
R L ≥ V C C ′ − V O L I O L m a x − m ′ I I L R_L\geq\frac{V_{CC}'-V_{OL}}{I_{OLmax}-m'I_{IL}} RL≥IOLmax−m′IILVCC′−VOL - OC门: 集电极开路门电路, 支持线与功能.
- ECL门支持线或功能, 速度快
客观题知识点: - 双极性晶体管集成逻辑门的工作速度高, 驱动能力强, 功耗大, 集成度稍低.
- MOS继承逻辑门特点是集成度高, 功耗较低, 工作速度较低, 强抗干扰能力
- ECL门工作在放大区和浅截止区, 故工作速度很快, 具有较强的驱动能力, 可以实现线或功能
- ECL门抗干扰能力弱, 噪声容限低, 功耗较大
- I 2 L I^2L I2L门电路集成度高, 低功耗
- I 2 L I^2L I2L门电路工作速度较低(因为PNP是横向晶体管, 电流增益低; NPN晶体管的结电容较大; 属于饱和型电路
- I 2 L I^2L I2L抗干扰能力弱.