嵌入式工程师必学(92):双极结型晶体管 (BJT)

BJT结构

  • BJT(Bipolar Junction Transistor) 由三个掺杂半导体区域(emitter发射极、base基极collector集电极)构成,由两个pn结隔开。

  • 一种类型由两个n个区域组成,由p区域(npn)分隔,另一种类型由两个p区域组成,由n区域 (pnp)分隔。

  • 双极是指在晶体管结构中使用空穴和电子作为电流载体。基本 BJT 结构:

  • 连接基极区域和发射极区域的 pn 结称为基极-发射极结

  • 连接基极区域和集电极区域的 pn 结称为基极-集电极结。

  • 引线连接到三个区域中的每一个。

  • 引线分别标记为E、B 和 C,分别代表发射极、基极和集电极。

  • 基片区是轻掺杂的,与重掺杂的发射极和中等掺杂的集电极区域相比,它非常薄。

内容概要:本文详细介绍了使用KGDB(Kernel GNU Debugger)调试Linux内核的方法及其重要性。文章首先强调了Linux内核作为系统核心的重要性及其调试的必要性,随后介绍了KGDB的基本原理和优势,包括其基于调试stub和GDB串行协议的工作机制。接着,文章详细描述了使用KGDB调试内核的具体步骤,包括准备工作、内核配置、设置启动参数、建立调试连接和进行调试操作。文中还通过一个实战案例展示了KGDB在解决实际问题中的应用,并总了使用KGDB时的注意事项和常见问题的解决方法。最后,文章展望了KGDB未来的发展方向和应用场景,如优化调试性能、支持新硬件架构以及在嵌入式系统、云计算和大数据领域的应用。 适合人群:具备一定Linux系统开发经验的研发人员,尤其是那些需要调试和优化Linux内核的工程师。 使用场景及目标:①帮助开发者深入了解Linux内核的运行状态,精准定位并修复内核问题;②优化内核性能,提高系统的稳定性和可靠性;③适用于嵌入式系统开发、远程服务器维护等场景,特别是在硬件资源有限或无法直接接触设备的情况下。 其他说明:在使用KGDB进行调试时,需特别注意串口设置的一致性、内核版本的兼容性以及调试信息的完整性。同时,要解决常见的连接失败、断点无效等问题,确保调试过程顺利进行。未来,KGDB有望在技术上不断优化,并拓展到更多应用场景中,为Linux系统的持续发展提供支持。
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