1.电压特性:
电压特性包括工作电压,最高电压和最低电压。绝对最大额定电压值反映芯片引脚的电压承受水平,如果超过该电压,可能会对芯片造成永久性损坏。在操作要求的电压之外不保证任何功能。只有在安全电压内操作才能保证功能和可靠性。
1.当芯片处于关闭状态时,即未组装在任何平台上,也未与任何电压或I/O信号连接,存储温度范围适用,有以下的工作电压范围。当芯片不满足这种温度下持续任何时间时都可能发生损坏。
2.对于运输过程中的芯片,存储温度范围为[+15°C~35°C],相对湿度<-90%。QTI建议在使用前让芯片恢复到室温。
运行条件包括设计控制参数,如电源电压、配电阻抗和热条件。SA8155芯片在运行条件下使用时,符合表格展示内容。
2. 连接特性
数字I/O的性能取决于其焊盘类型、芯片用途及电源电压值。
一些专用于SA8155芯片和QTI芯片组内的其他IC之间的互连;不需要额外规范。
有些是由现有标准定义的,例如I2C和SPI。QTI设备符合这些标准;不需要额外的规范。
所有其他数字I/O都需要满足要求的性能规范。
3.芯片时序
芯片时序特性的规范包含在每个信号部分以及所有其他性能规范。关于时序特性和相关的焊盘设计方法的信息包括在这里。
注:所有SA8155设备均具有主动端接负载;因此,所有本文中的基带定时参数假定没有总线负载。对于图中的每个信号:
一个时钟周期(T)从一个上升时钟沿延伸到下一个上升时间沿。
高电平表示1,低电平表示0,中间电平表示浮动(高阻抗)状态。
当高电平和低电平在同一时间间隔内显示时,取决于信号类型:
对于总线类型的信号(多比特),处理器或外部接口正在驱动一个值,但是该值可能是有效的,也可能不是有效的。
对于单个信号,这点可以忽略。
4.上升和下降时间规格
表征SA8155芯片的测试仪具有主动接负载,使上升和下降时间更快(模拟空载条件)。不同外部负载的影响上升和下降的时间如图3-2所示。
为了考虑外部负载条件,必须将上升或下降时间添加到启动的参数中,在SA8155芯片处计时并在外部设备处终止(反之亦然)。加上这些上升下降时间相当于应用电容性负载降额系数。