【ESD专题】案例 :结构设计导致的ESD问题

本文探讨了ESD(静电放电)问题在电子产品设计中的重要性,特别是在集成电路高度集成的时代。静电测试标准IEC 61000-4-2涵盖接触和空气放电两种模型。文章通过实例分析了结构设计如何导致ESD问题,如导光柱缝隙和金属外壳设计不当,提出了改进方案,强调切断静电进入设备路径的重要性。
摘要由CSDN通过智能技术生成

 上节(【ESD专题】6.从原理上分析TVS管PCB Layout的经验法则)通过将静电从静电源(一般是接口)到被保护IC路径形成结构框图,并进行原理分析了一些网上传的PCB Layout经验法则的正确与否,并且提出了一些其他要注意的点。但有时进行ESD测试和整改的并不是Layout的问题,有可能是结构问题,这些都是防不胜防的,只有对产品全局了解才有可能避免。

ESD被定义为:高静电电场引起的静电电荷快速、自发性转移。ESD电压高于典型的电子电路电压(通常为几伏),而且电子电路本身不支持这种电压。静电放电存在使半导体氧化物击穿、PN结短路、过热导致金属熔化开路等。ESD事件还可以产生例如整机功能正常但泄漏电流增加的潜在问题。潜在故障也可能在ESD事件中连续出现,但并不显现出来。

为什么ESD对电子硬件变得越来越重要?因为集成电路集成化越来越高(氧化层厚度减少,金属轨道宽度和厚度减少等等),对静电放电变得更加灵敏,并且约束越来越多。

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