SSD测试专题（三）

SSD PI测试细节

PI测试的细节

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众所周知，电源的质量关乎到硬件单板是否可正常工作，那么在PI测试中，测试人员需要注意的细节有哪些呢？

1. 功耗测试的细节
   针对SSD的等级划分，由企业级和消费级，不同等级所面对的工作场景是不一样的，从JEDEC 2019A中了解并抽取，企业级SSD处于24H长时间不断电运转，而消费级的SSD按照每天8H的时长工作来进行，则我们在进行功耗测试时，需要关注的点就不同。
   消费级一般关注的是峰值功耗，待机功耗。SSD作为PC的外围设备，根据微软的功耗定义，有S3,S4等标准。因此在测试功耗时，峰值功耗出现在IO压力下发到每一个Nand的Die上，待机功耗则应出现在S3,S4。其中S3为休眠到内存，此时电脑除内存外，其他的设备均处于断电状态，此时SSD处于断电状态。而在S4时，休眠到硬盘，作为系统盘会划分出SWAP空间，将系统运行数据存放至SSD上，SSD仍保存着供电，但此时SSD应作自身的更深层次的待机降低功耗，除core 电压外，其余的Nand 电源，Dram电源等均可关闭。此时SSD应处于超低功耗模式，如nvme协议中关于L1/L1.2 的电源状态管理，此时的功耗需要在测试中体现，但在目前的消费级SSD模组厂，特指国内的这些厂家，大部分没有针对此进行测试设计。
   企业级SSD由于工作模式的特殊，功耗测试虽也考虑到峰值功耗，待机功耗，但在用例上，会考虑到问题的问题，在实际测试过程中，有通过串口及特定的固件版本，设定每一笔IO均下发写入到所有的Die上的方式进行也有加大压力跑到满带宽的方式进行功耗测试方式。而企业级的待机功耗测试，类似与消费级S4状态下，不同点在于，企业级的工作模式要求，SSD部分器件断电再回复的延迟（一般这种延迟都在ms级别），会严重影响IO业务延迟，因此再硬件设计上，有做考虑。不同厂家的方案有所不同，再测试上就有所不同，得具体情况具体分析设计测试流程。
   2. 噪音及纹波的测试细节
   单板上的大部分采用开关电源，则开关电源附件会存在较多的电感器件。消费类SSD测试纹波噪音，通常选择近Nand端，企业级SSD测试采样点则会分布在电源，Nand，主控及Dram附近。那么在电源附近的测试时，示波器表笔通常会受到电感器件的影响，导致测试不准。此原因造成的同样的问题会在Nand Flash 及Dram 的SI测试中，电感器件在工作中会向周围环境辐射，将会影响到测试表笔中的运放器件的工作。有很多测试人员在测试时容易忽略这一点，导致测试结果中仍然出现有规律的波动噪音。此外，消费级SSD通常不会关注高低温下的纹波噪音情况，而企业级测试会做。在高低温下，电子元器件的活跃程度不同，会造成噪音纹波的大小不同，那么此测试的标准，应参照产品的等级而定。
   3. 时序的测试细节
   时序测试消费级SSD通常不会做PLP及PLD，因此在时序测试上也相对简单。而企业级SSD在
   做了PLP及PLD后，需要考虑到的便是满载及空载下的差异，如采用Buck Feed Back方案，在
   掉电过程中，超级电容或钽电容组对SSD供电的时长，会明显收到业务压力大小的影响。
   另外，根据SSD接口的不同，如intel 有定义SATA M.2 的Reset 时长，但在消费类主板上很常见的
   是，主板厂家对与自身的电源时许设计不规范，导致不认盘的现象非常之多。像H家（国产）的
   低端主板在进行SSD适配组装，多家SSD厂均发现Reboot测试不认盘，最终同一都定位到主板时
   序不规范，但是主板厂家知错不改的情况，反推SSD厂家适配修改的情况。