硬盘筛选测试

测试内容如下：

1.性能测试：一般采用性能测试软件iometer和CDM，测试对于不同的数据块的顺序读写，及随机读写速率。特别注意的是对于盘满覆盖的场景下，需要测试盘满后的顺序读写及随机读写性能。数据块包括4K，64K，128K，256K，512K，1MB。

2.功耗测试：采用CDM软件，测试硬盘上电瞬间的功率，及读写过程中最大功率。

3.启动瞬间电流测试：对于，HI3531D，hi3559，RK3588平台，整机功耗较小。另外笔者发现有些国产电源芯片没有缓启动功能（设备启动时，整机一起上电，导致瞬间电流过大，硬盘掉盘。），进口电源芯片一般都缓启动功能。测试方法：用高精度的示波器抓电流，普通示波器无法抓取。（笔者的示波器就无法抓取）一般需要在1A以下，高于1A需要注意。

4.可靠性测试：长时间写入，看硬盘是否掉盘或数据错误。

5.上下电测试：测试500次或者1000次上下电，记录是否有掉盘或者数据错误丢失。

6.高低温测试：包括冷启动测试，低温及高温下读写性能测试。