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RSS订阅原创 C++ 内存泄漏检测器设计
内存泄漏是指程序在运行过程中申请了内存空间却未及时释放，导致随着程序运行时间增长，占用的内存持续累积，最终可能耗尽系统可用资源。内存释放的配对原则：每次通过 new 分配的单个内存对象，必须使用 delete 进行释放；对于通过 new[] 动态分配的数组内存，则需用 delete[] 释放。系统不会自动回收动态内存：与栈内存不同，堆内存的释放完全依赖开发者手动操作。若忘记释放已申请的动态内存，系统无法自动清理这些 “闲置” 内存，它们会一直驻留在内存中，形成内存泄漏。
2025-06-02 17:24:34
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原创 芯片测试之hex文件分析
HEX文件，全称为 Intel HEX 文件格式（Intel Hex File Format），是一种由 Intel 公司在 20 世纪 80 年代初开发的ASCII 文本文件格式，用于存储计算机程序的二进制目标代码（机器码）及其相关元数据（如内存地址、校验信息等）。它是嵌入式系统、微控制器（如 51 单片机、ARM 芯片）开发中最常用的文件格式之一，主要用于将编译后的程序代码烧录到硬件设备的存储器（如 ROM、EEPROM、Flash）中。
2025-05-30 00:01:17
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原创 板级通信接口：UART 、I2C 、SPI
通信接口分为内部通信接口和外部通信接口两大类。内部通信接口主要用于板级信号传输，常见于设备内部组件间的通信，通常具备速度快、距离短的特性，有UART（通用异步收发器），I2C（双线总线），SPI（串行外设接口）。外部通信接口主要用于设备级信号传输，实现设备之间的通信，多采用差分传输（抗干扰强），通常速度相对较慢但传输距离远，有RS - 232，RS - 485，CAN（控制器局域网）。单工：信号只能单方向传输，发送端与接收端角色固定，无法反向通信。例如：广播电台与收音机之间的通信，电台持续发送节目信号，收音
2025-05-03 23:41:05
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原创 芯片测试之 Open Short 测试
开短路测试（Open/Short Test），又称连续性测试或连接性测试，是集成电路制造过程中重要的检测环节。在生产过程中，部分产品会因制造缺陷出现电路开路或短路问题，这类缺陷产品需要通过测试筛选剔除。由于生产测试中成本与测试时间直接相关，因此需要高效方法快速识别失效产品。初期执行开短路测试具有双重作用：1. 缺陷筛选：可快速定位存在开路或短路缺陷的产品，避免后续复杂测试资源浪费；2. 连接验证：用于确认自动测试设备（ATE）与被测设备（DUT）之间的电气连接是否正常，确保测试系统本身的可靠性。
2025-04-29 23:53:53
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原创 使用SmarTest7编程所需要的C++知识(一)
class 关键字用于定义一个类，类是一种用户自定义的数据类型，它把数据和函数封装在一起。类包含继承机制，继承允许一个类（派生类）继承另一个类（基类）的数据和函数。继承的3种方式：public，protected，private。3.1 public 继承：基类的 public 成员在派生类中依旧是 public 的，基类的 protected 成员在派生类中仍然是 protected 的，而基类的 private 成员在派生类中不可直接访问。
2025-03-27 20:57:59
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原创 labview入门
labview是一款虚拟仪器开发工具软件，使用图形化编程G语言，是一种标准的数据采集和仪器控制软件。labview开发的程序后缀为.vi，也就是VI(Virtual Instrument)，所有的VI都包含前面板，程序框图，图标/连接器三个部分。输入控件–用于输入参数，显示控件–用于显示输出结果。程序框图定义VI的功能。图标/连接器在建立子程序时使用，图标相当于子程序的函数名称，连接器对应子程序的输入输出参数。
2025-03-22 11:10:59
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空空如也
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