《数字系统基础》实验一 集成电路的逻辑功能测试

一、实验目的

1、熟悉Multisim14.0仿真软件环境；

2、掌握集成逻辑门的逻辑功能；

3、掌握集成与非门的测试方法。

二、实验原理

TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。

54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54 系列和74 系列的区别那样。在不同系列的TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。

TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL 电路比较合适。因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥2.4V，低电平为“0”时≤0.4V。

它们的逻辑表达式分别为：

 

        与门的逻辑功能为“有0 则0，全1 则1”；或门的逻辑功能为“有1则1，全0 则0”；非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有0 则1，全1 则0”；或非门逻辑功能为“有1 则0，全0 则1”；异或门的逻辑功能为“不同则1，相同则0”。

三、实验示例实验内容及实验步骤

1、基本集成门逻辑电路测试

（1）测试与门逻辑功能

74LS08是四个2输入端与门集成电路，请按下图搭建电路，再检测与门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	0
1	0	0
1	1	1

（2）测试或门逻辑功能

74LS32是四个2输入端或门集成电路，请按下图搭建电路，再检测或门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	1
1	0	1
1	1	1

（3）测试非门逻辑功能

74HC04是6个单输入非门集成电路，请按下图搭建电路，再检测非门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	Y
0	1
1	0

（4）测试与非门逻辑功能

74LS00是四个2输入端与非门集成电路，请按下图搭建电路，再检测与非门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	1
0	1	1
1	0	1
1	1	0

（5）测试或非门逻辑功能

74LS02是四个2输入端或非门集成电路，请按下图搭建电路，再检测或非门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	1
0	1	0
1	0	0
1	1	0

（6）测试异或门逻辑功能

74LS86是四个2输入端异或门集成电路，请按下图搭建电路，再检测异或门的逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	1
1	0	1
1	1	0

（7）测试同或门逻辑功能

74LS266是四个2输入端同或门集成电路，请按下图搭建电路，再检测同或门的逻辑功能，结果填入下表中。（注意：部分版本的74LS266存在问题，可用4077BD代替）

A	B	Y
0	0	1
0	1	0
1	0	1
1	1	0

2、利用与非门组成其他逻辑门电路

（1）组成与门电路

将74LS00中任意两个与非门组成如下图所示的与门电路，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	0
1	0	0
1	1	1

（2）组成或门电路

将74LS00中任选三个与非门组成如下图所示的或门电路，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	1
1	0	1
1	1	1

（3）组成异或门电路

将74LS00中的与非门按照下图所示的电路连线，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

A	B	Y
0	0	0
0	1	1
1	0	1
1	1	0

四、实验任务

请用或非门实现其他逻辑门电路，如与门、或门、非门、异或、同或。

1. 实现与门：

 2  或门

 3 非门

4 异或门

 

 5 同或门