MOS器件物理0201
第二章
- 基本概念
- MOS管的结构
- MOS管的符号
- I/V特性
- 小信号模型
- 二级效应
基本概念
MOSFET的结构
可设计的参数:
L d r a w n : 沟道长度 L_{drawn}:沟道长度 Ldrawn:沟道长度
W : 电极宽度 W:电极宽度 W:电极宽度
不可设计的参数:
t o x : 氧化层厚度 t_{ox}:氧化层厚度 tox:氧化层厚度
N s u b : 掺杂浓度 N_{sub}:掺杂浓度 Nsub:掺杂浓度
衬底电势
Nmos 衬底通常接地;Pmos 衬底通常接高电位;所有 Nmos 衬底是接一起的,接地
用电位判断漏源极
- P管:高电压S低电压D
- N管:高电压D低电压S
MOS管SD极可交换,双极型非对称
Pmos的B可以不相同,Nmos的B不能不一样
在一个P衬底上制作同时制作NMOS和PMOS这种工艺称为双阱工艺
深阱工艺
- 优点:
- 对不同的NMOS可以实现隔离的体端
- 减少了串扰(cross-talks)提高模拟性能
- 缺点:
- 更大的芯片面积
- 更高的制造成本(多一层掩膜)
MOS管作开关
通过控制 V g s V_{gs} Vgs来控制开关闭合,比双极性功耗低