微分电导测试综述

微分电导测量是非线性隧道器件和低温器件最重要和最关键的测量之一。数学上的微分电导是器件I-V曲线的导数。典型的应用有MIS结，Josephson结，晶体管的缺陷表征等。
目前，最受信赖的是微分电导的测试方法。需要物品：一台锁相，一个偏压源，一台或两台电压表。这种测试方法连线复杂，容易烧毁样品。且传统锁相对操作者要求高，测试速度慢。
另一种是锁相法的替代方法。这种方法连线简单，速度更快。但Delta模式原理限制，导致接近零偏置时噪音很大。测试和输出都经过数学处理，不能反应真正的物理过程，用户接受度不高。而且无法测多倍频。