Cable test 线材综合性能测试

最新推荐文章于 2022-08-06 06:07:53 发布

winkey06

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分类专栏：性能测试文章标签：工作测试

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Cable Test

一、基本测试项目Primary test：

1）线路电阻 Connection resistance

测量误差产生原因：

a.主板线路走线的不一致性，需要预先校正进行修正；

b.继电器老化引起的接触不良；

c.测试机出口连接器磨损引起的接触不良；

d.夹具引线电阻不一致引起误差

2）高压/耐压测试 Hi-pot(withstandingvoltage)

n 高压施加在两不导通的点位间以检验应开路的导线/连接器间的耐压特性

n 高压测试有利于检测两靠得非常近的导体间存在的污染物(如金属披锋)

n Hi-pot duration高压时间 :指在两导体间施加高压的时间

背景:生产部及市场开发部统计发现LFH60 /DMS59 及USB 产品因漏电而报废的数量比较多，同时发现将原测试电压500V DC测试出的不良品改用300V DC测试,结果为PASS, 认为客户使用电压为30V以下不会用到500V DC高压, 希望将测试电压全部改为300V DC,要求TE进行测试确认;

经测试及分析发现相当一部分电测不良品不仅是漏电而是高压击穿，其原因是焊接及注塑时线与线之间靠得太近或线与铁壳间绝缘层剥落，在500V DC高压测试时击穿放电。其性质是严重的，此类击穿是潜在的short,极有可能在以后变成INT short 以至与发展成为短路

a．高压测试击穿FAIL,仪器显示: over current过流, 或leakage漏电,ARC电弧；即两PIN或两导线间介质不能承受高的测试电压，原绝缘介质被击穿变成导体而产生电弧/火花放电。生产部将绝缘不良与高压击穿统称为漏电是不对的,击穿与绝缘不良是两样东西,性质是有明显区别的

b.绝缘不良是指两导线间的绝缘电阻不能达到规范值，在200V~1000V测试电压范围内绝缘电阻基本与测试电压无关，即无论用300V 还是用500V 测试电压，绝缘电阻是不变的，当然这个结论的成立是在没有发生击穿的前提之下

3). 绝缘电阻 Insulation resistance

4). 导通测试 Continuity test

线材三类基本的电性不良：开路Opens、短路Shorts、错位Mis-wires

5). 毫欧级测试 Milli-ohm test

有两款IDC产品(special VHDCI, special RJ4 lan cable)由于其设计作了更改,IDT 接触不良, 客诉为INT不良. 用两线测试机2 ohm 规范不能侦测出坏品而用毫欧级电阻测试机0.22 ohm~0.63 ohm规范侦测出来大量的不良品,通过切片分析及40X放大镜观察确认了其问题所在;因而其在检测问题、推动制程改善及质量改进方面的贡献是显而易见的

6). 瞬间短断路、瞬间接触不良测试intermittent(INT)

瞬间的短断路intermittentshorts and opens乃真正的难题所在；INT 一般乃由一些机构改变、温度变化、以及机械振动又或产品经受摇摆等形成外力而导致产品的电气性能发生临时的通常是瞬间的变化

案例分享：Case/eventStudy:

生产部生产一批DVI-Iadapter适配器时测试发现许多产品导通电阻不稳定，手用力扳往一方向时测试PASS，松开时则不良，经分析发现一引脚金针变形无弹力，导致接触不良，这是一个典型的INT瞬间导通不良现象，一整批的出现方引起生产部的重视。在实际生产过程中时常遇到INT情况，在工作中对INT万不可麻痹大意，将潜在问题疏忽，错过了纠正及预防问题的大好机会！