VASP载流子有效质量计算

VASP载流子有效质量计算

 

在计算完能带之后,可以对载流子(电子+空穴)的有效质量进行计算,考察其光电性质。以Si的能带结构为例,如图所示,其价带顶位于高对称点Gamma处,导带底大约位于X处。

由图可知,此时会产生四个方向的载流子迁移:Gamma –> L,Gamma –> K,X –> W,X –> Gamma,因此需要计算这四个方向的电子及空穴载流子的有效质量。

其具体计算步骤如下:

 

 

第一步:准备VPKIT.in文件,其文件内容如下:

注释:第1行,设置为1,表示生成计算有效质量的KPOINTS文件,设置为2则表示计算有效质量,即先设置为1,再设置为2。第2行,6表示在K点附近去6个离散点用于多项式拟合,不用改。第3行,0.015表示截断半径,不用改。第4行,4表示有4个有效质量任务

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要绘制有效质量图,首先需要通过VASP软件计算得到体系的电子波函数。以下是使用VASP绘制有效质量图的一般步骤: 1. 准备输入文件:创建一个包含体系结构和计算参数的输入文件,并在其中指定所需的功能和计算类型。输入文件应包括体系中的原子种类、坐标、晶格参数以及所需的计算方法等。 2. 运行VASP计算:使用上述输入文件运行VASP软件进行电子结构计算。VASP将基于初始结构进行自洽计算,直到达到收敛条件。 3. 提取波函数:根据VASP计算的结果,使用vasprun.xml文件中的相关信息提取出波函数的能带数据。能带表示了在动量空间中的能量分布。 4. 计算导数:为了确定有效质量,需要计算能带曲线的导数。将能带曲线插值到更密集的k点网格上,并通过计算斜率来得到能带的导数。VASP软件自带了一个工具——bands.x,可以用于能带曲线插值和导数计算。 5. 计算倒数质量张量:倒数质量张量可以通过对频率相近的能带导数进行拟合来计算得到。使用线性回归或二次拟合等方法,基于能带导数的斜率和二次导数计算出倒数质量张量。 6. 绘制有效质量图:根据计算得到的倒数质量张量,可以绘制出有效质量图。可以选择在动量空间的某个特定点或整个Brillouin区域中绘制。 总之,通过以上步骤,可以使用VASP软件计算得到体系的电子波函数,并进一步提取能带曲线并计算导数和倒数质量张量,最终绘制出有效质量图。

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