机器学习——学习理论

一、经验风险最小化
1.1 经验风险最小化理论
  考虑线性分类模型 h θ ( x ) = g ( θ T x ) g ( z ) = 1 { z ≥ 0 } h_{\bm\theta}(\bm{x}) = g(\bm\theta^T\bm{x}) \\ g(z) = 1\{z \ge 0\} hθ​(x)=g(θTx)g(z)=1{z≥0}考虑训练样本 { ( x ( i ) , y ( i ) ) } i = 1 m \{(\bm{x}^{(i)}, y^{(i)})\}_{i=1}^m {(x(i),y(i))}i=1m​，定义训练偏差 ϵ ^ ( h θ ) = ∑ i = 1 m 1 { h θ ( x ( i ) ) ≠ y ( i ) } / m \hat\epsilon(h_{\bm\theta}) = \sum_{i=1}^m1\{h_{\bm\theta}(\bm{x}^{(i)}) \ne y^{(i)}\} / m ϵ^(hθ​)=i=1∑m​1{hθ​(x(i))​=y(i)}/m即训练样本分类错误所占的比例。对于非训练样本的同分布样本，定义一般误差$$ϵ(h_{\mathbf{\theta }})=p(h(\mathbf{x})\ne y)$$机器学习的目的是选用参数值使训练误差最小化，也成为经验风险最小化【Empirical Risk Minimization，ERM】，形如$$\hat{\mathbf{\theta }}=argmin\widehat{ϵ}(h_{\mathbf{\theta }})$$  从另一个方向讲，定义线性分类算法的集合 H = { h θ , θ ∈ R p × 1 } H = \{h_{\bm\theta}, \bm\theta \in \bm{R}^{p×1}\} H={hθ​,θ∈Rp×1}那么ERM也可以定义为$$\hat{h}=argmi{n}_{h\in H}\widehat{ϵ}(h)$$更一般的，对于任意算法，包括深度学习等，上述表述均成立。ERM是一种合理的算法，可以带来较小的一般误差。

1.2 一致收敛
  首先介绍联合界引理，令$A_1,...A_k$表示k个事件，其不一定独立，则$$P(A_1\cup A_2\cup ...\cup A_k)\le P(A_1)+...+P(A_k)$$直观来讲，概率图的并集不大于每个概率图之和。
  再介绍霍夫丁【Hoeffding】不等式，对于独立同分布的随机变量$z_1,...,z_m$，其服从于均值为$\varphi$的伯努利分布，即$$\hat{\varphi }=\sum _{i=1}^m{z}_i/m$$对于给定的$\gamma$，有 p ( ∣ ϕ ^ − ϕ ∣ > γ ) ≤ 2 e x p { − 2 γ 2 m } p(|\hat\phi - \phi| > \gamma) \le 2exp\{-2\gamma^2m\} p(∣ϕ^​−ϕ∣>γ)≤2exp{−2γ2m}其直观意义为，根据中心极限定理，大量样本估计的$\hat{\varphi }$会收敛到$\varphi$为中心的高斯分布，而$\gamma$从高斯分布上取得了估计偏差的概率。但实际上，霍夫丁不等式对任意样本数量均成立。
  令H为包含k个假设的集合 H = { h k } H = \{h_k\} H={hk​}，其中的元素均是无参数的映射。对于给定数据集，从k个函数中选取一个，使得训练误差最小，形如$$\hat{h}=argmi{n}_{h\in H}\widehat{ϵ}(h)$$ERM理论认为，训练误差是一个对一般误差很好的近似，即若训练误差最小化，那么一般误差也不会太大。
  考虑逻辑回归中，任选$h\in H$，并定义 z i = 1 { h ( x ( i ) ) ≠ y ( i ) } z_i = 1\{h(\bm{x}^{(i)}) \ne y^{(i)}\} zi​=1{h(x(i))​=y(i)}那么$$\begin{array}{rl}p(z_i=1)& =\widehat{ϵ}(h)\\ & =\sum _{i=1}^m{z}_i/m\end{array}$$根据霍夫丁不等式，有 p ( ∣ ϵ ( h ) − ϵ ^ ( h ) ∣ > γ ) ≤ 2 e x p { − 2 γ 2 m } p(|\epsilon(h) - \hat\epsilon(h)| > \gamma) \le 2exp\{-2\gamma^2m\} p(∣ϵ(h)−ϵ^(h)∣>γ)≤2exp{−2γ2m}即训练误差是一般误差的很好的估计。再定义事件$A$为$|ϵ(h)-\widehat{ϵ}(h)|>\gamma$，即训练误差与一般误差相差较大，那么 p ( A ) ≤ 2 e x p { − 2 γ 2 m } p(A) \le 2exp\{-2\gamma^2m\} p(A)≤2exp{−2γ2m}那么对于H内的所有映射，发生训练误差与一般误差相差较大的概率为 p ( A 1 ∪ A 2 ∪ . . . ∪ A m ) ≤ ∑ i = 1 k p ( A i ) ≤ 2 k e x p { − 2 γ 2 m } \begin{aligned} p(A_1\cup A_2 \cup ... \cup A_m) \le& \sum_{i=1}^kp(A_i) \\ \le& 2kexp\{-2\gamma^2m\} \end{aligned} p(A1​∪A2​∪...∪Am​)≤≤​i=1∑k​p(Ai​)2kexp{−2γ2m}​那么一般误差与训练误差相差较小的概率为 p ( A ˉ ) ≥ 1 − 2 k e x p { − 2 γ 2 m } p(\bar{A}) \ge 1 - 2kexp\{-2\gamma^2m\} p(Aˉ)≥1−2kexp{−2γ2m}即在一定的概率下，H中的所有h，都使得一般误差与训练误差相差在$\gamma$内。当$m$足够大时，H内的所有训练误差均收敛于一般误差，这称为一致收敛。
  根据一致收敛理论，给定$\gamma$与容错率$\sigma$，可以计算出所需的样本数量$m$。令 σ = 2 k e x p { − 2 γ 2 m } \sigma = 2kexp\{-2\gamma^2m\} σ=2kexp{−2γ2m}那么$$m\ge 1/2{\sigma }^2\cdot log(2k/\sigma )$$使得在$1-\sigma$的概率下，$|ϵ(h)-\widehat{ϵ}(h)|\le \gamma$对所有H中的映射成立，这称为样本复杂度界。计算机科学一般认为，$\forall k,logk\le 30$，即在H中追加映射，样本数量也不会有太多的提升。一般来讲，在求解界时，一些常量是无关紧要的，故可以写成$$m=O(1/{\sigma }^2\cdot log(k/\sigma ))$$同理，根据一致收敛理论，给定容错率$\sigma$与样本数$m$，可以计算出偏差$\gamma =(1/2m\cdot log(2k/\sigma ){)}^{1/2}$。

1.3 偏差方差权衡
  在一致收敛的条件下，有$\forall h\in H,|ϵ(h)-\widehat{ϵ}(h)|\le \gamma$。根据ERM理论，令$$\hat{h}=argmi{n}_{h\in H}\widehat{ϵ}(h)$$并定义取得最小一般误差的映射$${\hat{h}}^{\ast }=argmi{n}_{h\in H}ϵ(h)$$根据一致收敛理论，有$$\begin{array}{rl}ϵ(\hat{h})& \le \widehat{ϵ}(\hat{h})+\gamma \\ & \le \widehat{ϵ}({\hat{h}}^{\ast })+\gamma \\ & \le ϵ({\hat{h}}^{\ast })+2\gamma \end{array}$$因此在$H$为有限集的情况下，给定容错率$\sigma$与样本数$m$，有$$ϵ(\hat{h})\le mi{n}_{h\in H}ϵ(h)+2(1/2m\cdot log(2k/\sigma ){)}^{1/2}$$即训练误差最小的映射与一般误差最小的映射的误差在一定范围内。
  对于不同的拟合，若增大H内映射的数量，那么$ϵ$项可能会减小，但$\gamma$项的$k$会增大，这种现象称为偏差方差权衡，即使用更多的假设，可能找到更好的函数拟合模型，但不能精确拟合模型的风险也随之提高。
  概括来讲，在模型过于简单时，训练误差与一般误差的偏差较小，但误差过高，称为欠拟合；在模型过于复杂时，训练误差降低，但训练误差与一般误差的偏差过高，称为过拟合。

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二、VC维度
2.1 分散与VC维
  给定一个由d个点构成的集合 S = { x ( d ) } S = \{x^{(d)}\} S={x(d)}，如果一个假设类$H$能够实现集合$S$的任意一种标记方式，称为$H$能够分散$S$。类$H$能够分散的最大集合$S$的大小称为$H$的VC【Vapnik-Chervonenkis】维度，记$VC(H)$。
  考虑二维空间的线性分类器，存在某种分布3个样本点能被$H$分散，但任何分布的4个样本点都不能被$H$分散，即其VC维为3。而$n$维空间的VC维为$n+1$。

2.2 无限维经验风险最小化理论
  对于包含k个假设的集合 H = { h k } H = \{h_k\} H={hk​}，ERM理论认为，在$1-\sigma$的概率下，一致收敛所需要的样本数量为$$m=O(1/{\sigma }^2\cdot log(k/\sigma ))$$一般来讲，一个线性决策边界组成的$h_k$，其参数以$d$个实数作为参数，考虑$n$维逻辑回归问题，则$h_k$以$n+1$个实数作为参数。那么在计算机科学中，由于二进制浮点数的限制，所有k个假设的$d$的组合情况是有限的，即$$k=2^{(dc)}$$其中$c$是数据位数，故$$\begin{array}{rl}m& \ge 1/2{\sigma }^2\cdot log(2k/\sigma )\\ & =O(d\cdot log(1/\sigma )/{\sigma }^2)\end{array}$$即所需的样本必须是上述式的数量级，其表明了所需的样本大致与假设类的参数数目呈线性关系。而不考虑计算机科学，有一种更加正确的表述。
  Vapnik与Chervonenkis证明了，给定集合$H$，令$VC(H)=d$，那么在$1-\sigma$的概率下，有$$|ϵ(h)-\widehat{ϵ}(h)|\le O((d/m\cdot log(m/d)+1/m\cdot log(1/\sigma ){)}^{1/2})$$即一致收敛，以及在$1-\sigma$的概率下，有$$ϵ(\hat{h})\le mi{n}_{h\in H}ϵ(h)+O((d/m\cdot log(m/d)+1/m\cdot log(1/\sigma ){)}^{1/2})$$在满足一致收敛的条件下，有$$m=O(d)$$即样本量需要与$H$的VC维呈线性关系。

2.3 SVM的VC维
  事实证明，即使使用核函数将样本映射到高维空间，具有较大间隔的线性分类器的假设类依然有比较低的VC维。考虑一定数量的样本点，其假设类包含了以较大的间隔分隔点集合的边界。若仅考虑半径为$R$范围内的样本点，以及间隔至少为$\gamma$的线性分类器构成的假设类$H$，那么$$VC(H)\le \lceil R^2/4{\gamma }^2\rceil +1$$即仅包含较大间隔线性分类器的假设类的VC维是有上界的。其表明VC维的上界不依赖于样本的维度。
  ERM的损失函数可以认为是 1 { h θ ( x ) ≠ y } 1\{h_\bm\theta(\bm{x}) \ne y\} 1{hθ​(x)​=y}，目的是选取$\mathbf{\theta }$使得其最小，是一个非凸的阶跃函数。而逻辑回归，SVM都可以看作该问题的一种凸性近似。

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三、模型选择算法
  根据ERM，偏差和方差之间存在权衡，即不应该选择过于简单或者过于复杂的模型。模型选择算法提供了一类方法，可以自动的在偏差与方差之间权衡。

3.1 保留交叉验证
  保留交叉验证是一种标准的模型选取方法，将给定的训练集随机划分为两个子集，一个称为训练子集，另一个称为保留交叉验证子集。使用训练子集训练模型，并使用保留交叉验证子集进行测试，选择最小测试误差的模型作为结果。
  一般的，训练子集占有训练集的70%，保留交叉验证子集占有30%，之后可以使用100%的数据对选出的模型进行重新训练。

3.2 k重交叉验证
  有时，数据的获取是困难的，使用30%的数据来选择模型的代价过大。因此，为了提高数据的使用率，使用保留交叉验证的一种变种，称为k重交叉验证。
  考虑训练集，将其划分为k部分，通常情况下，k的取值为5或10。重复的使用其中k-1个部分进行训练，并使用剩余的部分进行测试，最后将k个结果求取平均，选择最小测试误差的模型作为结果，并使用100%的数据对选出的模型进行重新训练。其明显的缺点为需要大量的计算。
  对于m个样本时，k取m-1的情况，称为留1交叉验证，适用于样本较少的情况。

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四、特征选择
  对于很多机器学习问题，需要面对非常高维的特征空间，输入特征向量$\mathbf{x}$的维数可能非常高，可能会引起过拟合问题。减少特征数量，也许可以减少学习算法的方差，降低过拟合的风险。

4.1 封装特征选择算法
  前向搜索算法是一种特征选择的有效方法。其算法流程为
  （1）初始化特征子集$F$为$\varnothing$；
  （2）对于第i个特征$x_i$，分别尝试加入到$F$中，对模型进行交叉验证。
  （3）$F=F\cup x_i$，其中$x_i$是效果最好的特征。并迭代（2）-（3），知道到达结束条件，如模型指标，特征数量。
  同理的后向搜索算法是也一种特征选择的有效方法。
  上述算法像一个包装一样封装在学习算法外面，即进行特征选择时，需要重复的使用学习算法训练模型，并根据模型的结果选择特征子集，其称为封装特征选择算法。其主要的缺点是需要大量的计算。

4.2 过滤特征选择算法
  该算法的一般误差不会太低，从而导致假设的工作效果不是很好，但其的计算量较小。其基本思想为，对于每个特征，尝试计算一些衡量标准，衡量其对结果的影响，并选出最具有代表性的特征。