ADC动态仿真中输入信号频率与采样频率的关系

本帖最后由 duke2050 于 2012-7-1 11:56 编辑

在做ADC的动态特性仿真时,输入频率与采样频率的关系应如何确定?

看到一些资料上面说fin=fs*M/N,

其中,fin为输入信号频率,fs为采样频率,M为奇数或者质数,N=2^n。

取M=5:
1024个点在5个周期内采完,每个信号周期采到204.8个点。300KHz的采样频率对300K/204.8=1.4648KHz的输入信号采样时,可以采到204.8个点。这时候设置仿真时间为5/1.4648K=3.42ms 即可。

取M=311:
300KHzd的采样频率对91.113KHz的输入信号采样,每个信号周期采到3.2926个点。仿真中瞬态时间设置成311个时钟周期,一共采到 3.2926 x 311 = 1024个点。

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实验目的: 学习STM32F103C8T6的ADC采样功能,了解ADC采样的基本原理,并能够编写相应的代码进行ADC采样仿真实验。 实验器材: 1. STM32F103C8T6开发板 2. USB转串口模块 3. 电位器 4. 杜邦线若干 5. 电源适配器 实验原理: ADC(Analog-to-Digital Converter)是模拟信号转数字信号的重要模块,可以将模拟信号转换成数字信号以供处理器使用。STM32F103C8T6的ADC采样功能能够将外部模拟信号转换成数字信号,并送到处理器进行处理。 STM32F103C8T6的ADC采样功能基本原理如下: 1. 将模拟信号通过模拟开关连接到采样保持电容上。 2. 将采样保持电容上的电压进行比较,得到数字电压值。 3. 将数字电压值通过一个8位的ADC模块转换成数字信号。 4. 数字信号经过比较、计算等操作后,得到处理结果。 实验步骤: 1. 连接实验器材,将电位器的第一个脚连接到STM32F103C8T6的PA0口,第二个脚连接到GND,第三个脚连接到VCC。 2. 打开Keil uVision5集成开发环境,新建一个工程。 3. 将工程的芯片型号设置为STM32F103C8T6,选择对应的晶振频率和Flash容量,确定芯片的时钟源。 4. 在工程添加头文件“stm32f10x_adc.h”和“stm32f10x_gpio.h”,并编写相应的代码。代码如下: ```c #include "stm32f10x_adc.h" #include "stm32f10x_gpio.h" void ADC_Configuration(void) { ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure; GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure; RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOA | RCC_APB2Periph_ADC1, ENABLE); GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_0; GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AIN; GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure); ADC_DeInit(ADC1); ADC_InitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent; ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE; ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ENABLE; ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_ExternalTrigConv_None; ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right; ADC_InitStructure.ADC_NbrOfChannel = 1; ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure); ADC_Cmd(ADC1, ENABLE); ADC_ResetCalibration(ADC1); while(ADC_GetResetCalibrationStatus(ADC1)); ADC_StartCalibration(ADC1); while(ADC_GetCalibrationStatus(ADC1)); } uint16_t Get_ADC_Value(void) { ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_55Cycles5); ADC_SoftwareStartConvCmd(ADC1, ENABLE); while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC)); return ADC_GetConversionValue(ADC1); } int main(void) { uint16_t adc_value = 0; ADC_Configuration(); while(1) { adc_value = Get_ADC_Value(); } } ``` 5. 对代码进行编译、烧录,打开串口调试助手,可以看到ADC采样到的电压值。 实验结果: 通过实验,我们可以得到ADC采样到的电压值,可以通过串口调试助手进行查看。 实验总结: 通过本次实验,我们了解了STM32F103C8T6的ADC采样功能,并且能够编写相应的代码进行ADC采样仿真实验。同时,我们也了解了ADC采样的基本原理,为后续的学习打下了基础。

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