TI高速ADC基础 SLAA510(二)

4.ADC管脚接口

一般来说,ADC包括以下6种接口:

  • 模拟输入

  • 参考/共模模式

  • 时钟输入

  • 数字输出

  • 电源

  • GND
    4.1模拟输入
    高速ADC通常采用差分输入,输入信号是180度反相的,使得信号是叠加的。与单端输入相比,由于消除了共模噪声,差分信号改善了ADC的噪声特性。此外,差分信号还降低了偶次谐波,这是由于信号被偏移了180度,对于偶次谐波,导致2x180,4X180,6X180度的相移,如下图所示
    在这里插入图片描述
    与单端信号相比,差分信号的幅度仅于等效单端信号的一半,从而差分信号具有更优的谐波性能。小信号使得ADC具有更宽的裕量。一般而言,更多的裕量可以使ADC工作在线性区域,减少产生谐波的非线性影响。如下图所示:
    在这里插入图片描述
    下图所示为双变压器ADC输入接口,变压器用于将单端信号转换成差分信号。
    在这里插入图片描述
    单变压器会有少量的不匹配,会产生偶次谐波。第二级变压器用于校正这种不匹配,以降低偶次谐波。在高频信号时,采用变压器可以获得较高的性能。但是,对于基带信号或者低频信号,通常采用运放驱动ADC输入。
    4.2参考/共模模式
    参考电压和共模电压在ADC中具有不同功能。在许多ADC中,参考电压和共模电压具有相同的电平,或者有时ADC管脚会复用参考电压和共模电压功能。因此,这些信号术语有时会导致误解。
    参考电压决定的ADC的动态范围。数据手册通常会提供参考电压和动态范围的关系。
    在这里插入图片描述
    参考电压可以由ADC内部生成,或者外部提供。为了获得数据手册标注的性能,需要提供正确的参考电压。对于外部参考,应尽量降低外部参考电压的直流噪声。参考电压上的噪声会直接影响ADC的SNR。
    图11中,共模电压VCM是指输入到差分模拟输入信号的直流电平。VCM用于将将差分输入信号偏置在电源和GND的中间。
    VCM有以下几种应用方式:

  • 有些ADC有VCM管脚,输出内部产生的VCM

  • 有些ADC将VREF设置成与VCM相同的电平,因此,VREF可用于生成VCM

  • 设计师可选择外部提供VCM

对于外部产生的VCM,必须保证其电平与数据手册要求一致,错误的VCM电平会降低ADC的SNR。
4.3时钟输入/抖动
高速ADC通常采用差分时钟输入。时钟抖动及斜率是影响ADC的SNR的重要因素。时钟抖动对SNR的影响如下所示:
在这里插入图片描述
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由上可知,对于理想ADC,时钟频率并不会影响SNR。若不考虑时钟抖动,时钟频率达到ADC设计极限(诸如建立、保持或模拟建立时间),从而最终导致SNR下降。
抖动不变时,SNR随输入信号频率增加而降低。
在这里插入图片描述
由上图所示,指定时钟抖动时,SNR随信号频率增加而降低。高频模拟输入信号对于时钟抖动有较大的误差。如果时钟信号上有随机噪声,会表现在频谱图上。如果时钟信号上有确定的误差信号,这个信号会与ADC的输入信号混合在一起,在频谱图上表现为杂散。
设计师必须考虑时钟抖动的两个重要因素。其一是ADC的孔径延迟,其二是外部输入时钟的抖动。这两个因素共同产生的抖动影响ADC的采样误差。
在这里插入图片描述
设计实例:
设计需求如下:
SNR=75dB
FIN=75MHz
客户选定的ADC其孔径抖动=80fs
为了满足客户的SNR需求,客户应用所能容忍的最大抖动是多少?
A:用公式3求解抖动
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B:用公式4求解外部时钟抖动
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因此,外部输入时钟抖动必须小于397fs。
下图展示了慢时钟沿导致较大的孔径抖动的情形。对于正弦时钟,增大时钟幅度可以改善孔径抖动进而提高ADC的SNR。
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正弦波幅度与SNR的关系如下图所示:
在这里插入图片描述
那么问题来了,如果关注时钟上升斜坡,那为什么不直接给ADC提供方波时钟信号?答案是:方波时钟确实是一个可行的ADC时钟选择。但是,设计者必须在正弦和方波之间做出一系列的折衷。
其一是低抖动方波时钟与时钟频率范围间的折衷。对于大多数应用,通过窄带SAW或晶体滤波器以改进ADC时钟的close-in相位噪声(抖动)。滤波后,时钟变成低抖动正弦时钟,可以直接提供给ADC。这种方法的局限在于时钟频率范围受限于滤波器带宽。一些公司有时钟抖动清除及时钟分配芯片,这些芯片具有较好的相噪性能、方波输出和较宽的频率范围,其相噪特性足以满足系统需求,而不需要额外滤波器。
其二是方波时钟与正弦时钟在信号完整性方面的折衷。与正弦信号相比,方波信号具有丰富的谐波,具有高频分量。由于信号反射及对其它信号的干扰,高频分量会对电路设计带来较大困难。不管采用哪种时钟信号,必须对电路设计着重考虑,以满足ADC的抖动需求。
4.4实验评估
ADC的实验评估主要包括软件和硬件两个方面。
ADC实验评估的软件手段主要是FFT。由于其高速及准确性,FFT是时域到频域变换的卓越评估工具。
要实现FFT,必须理解一致性、加窗和频谱泄漏等概念。
下图显示了加窗和频谱泄漏。窗口选择不当会导致频谱泄漏。
在这里插入图片描述
某些设计者需要非整数个周期。在这些特殊情况下,由于频谱泄漏,不能使用FFT,可以使用布莱克曼窗或者傅利叶分析。这种方法允许采集非整数个周期信号,但是需要更多计算时间并且会对噪底计算和频率响应引入少量误差。
FFT一致性定义如下:
在这里插入图片描述
上式中的参数需遵循以下规则:
规则1:M是奇整数。M为整数是为了避免频谱泄漏,奇数的要求是由于规则3。
规则2:N是2的幂。FFT的点数必须是2的幂,通常是4096,8192,16384,32768或65536。选择N时,需要在计算时间、测量重复性等因素之间做权衡。
规则3:M和N是互质数。M和N互质是为了保证采集到非重复数的样本。由于FFT的特性,重复样本除了带来额外的计算量外,并不能提供更多的有用信息。由于N是2的幂,若限定M是奇整数,则可保证M和N互质。
在这里插入图片描述
规则4:FIN与FS的分辨率须大于输入源的最小分辨率要求。例如,模拟输入和时钟源的最小分辨率为10Hz,则它们不能被设置为小于10Hz的分辨率。在做FFT时,如果频率分辨率小于输入源的分辨率,会采集到非整数个周期,进而引起频谱泄漏。
设计实例
需求如下:
Fin=70MHz
Fs=125Msps
分辨率为1Hz
求解M,N,Fin,Fs。
(1)取N=8192,M=NFin/Fs=4587.52,取M=4587.
(2)根据N重新计算Fs(保证分辨率为1Hz)
X=Fs/N=125M/8192=15258.789
X取整为Xnew=15258.
新的Fs=Xnew
N=152588192=124.993536Msps
(3)计算新的Fin
Fin=Fs
M/N=124.993536Msps*4587/8192=69.9988446MHz
ADC实验评估的硬件包括:
(1)时钟源:为达到所需的抖动要求,需通过BPF滤除close-in和宽带噪声
(2)模拟输入源:为达到所需的噪声和谐波要求,需通过BPF滤除噪声和谐波
(3)数据采集仪:保证采集仪具有足够的速度和存储容量用于FFT处理
典型的ADC实验设置如下图所示:
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