SPAD器件仿真(一)器件参数提取和dark下的I-V曲线仿真

一、器件参数提取

在之前的器件结构中,在doping中可以设置掺杂的深度,从而知道pn结的大致深度,具体的数值可以通过对器件结构文件进行参数提取,文件必须是进行过初始化的结构文件(.str)。

可以提取的参数有很多,这里说一下关于常用的PN结结深和最大电场的提取。

extract init inf="PIN_devices.str"
extract name="jx" xj material="Silicon" mat.occno=1 x.val=10.0 junc.occno=1

第一行代码:选择要提取的结构文件

第二行代码:提取器件的结深,可以通过更改junc.occno的数值,选择提取的是第几个pn结的结深(junc.occno=1提取第一个pn结结深,junc.occno=2提取第二个pn结结深)

extract name="jef" 2d.max.conc impurity="E Field"  material="Silicon"  \ 
              x.min=0 x.max=20 y.min=0 y.max=10.1
extract name="xposition of max field" x.pos
extract name="yposition of max field" y.pos

最大第一行代码:提取器件的某一范围(x.min=0 x.max=20 y.min=0 y.max=10.1)内的最大(2d.max.conc)电场强度(impurity="E Field")

第二行,第三行代码:提取最大电场强度的坐标

二、DARK下的 I-V 特性曲线

go atlas simflags="-V 5.28.1.R -P 8 "
init infile=PIN_devices.str

首先,打开ATLAS并选择要仿真的结构文件。

#选择模型
models bipolar bbt.std  print 
impact selb 
#数值计算方法
method newton trap maxtrap=50 climit=1e-4
#初始化载流子
method carriers=0
#初始化
solve init
#载流子(电子和空穴)
method carriers=2
#设置日志文件,用于保存IV曲线
log outf=PIN_VB.log
#设置偏置电压
solve vanode=-0.01
solve vanode=-0.1
#偏置电压从1V递增到30V,步长(每次增长)1V,当cathode的电流达到1e-4A时,结束,进行下一句
solve vanode=-1 vstep=-1 vfinal=-30 name=anode compl=1e-4 cname=cathode
#结束并在tonyplot中显示IV曲线
log off
tonyplot PIN_VB.log

新行业新人,希望对你有用,更希望我们能多交流,一起进步。如果有不对的地方,望大家多多指正,谢谢。

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