为了顺应信息时代的发展,SSD固态硬盘从原来2.5寸SATA接口,进化到体积更小的M.2接口固态硬盘,在面对大数据存储需求日益激增的现况,可靠的SSD固态硬盘更是成为不少用户关注的焦点。随着3D NAND技术的不断进步,作为SSD固态硬盘的核心——NAND闪存目前的容量随着3D堆叠技术发展越来越大,从最初的SLC发展到现在的QLC,介质密度得到进一步提升。
但磨损次数(PE Cycle)、数据保存(Data Retention)、温差(Temperature Diff)、读干扰(Read Disturb)、驻留时间(Dwell Time)等因素都会对NAND Flash数据保存产生影响,尤其在高温环境下NAND Flash存储器寿命缩短速度会加剧,其数据保存(Data Retention)能力也会随之下降,会出现不稳定的闪存读/写情况,即便SSD固态硬盘性能再强、容量再大,未通过高温测试的产品也就会被打上不良品的标签。
产品品质是产品的重中之重,时创意作为一家在存储芯片领域具备芯片设计、软固件研发、封装测试、模组生产测试及应用与一体的国家高新技术企业和国家专精特新“小巨人”企业,出厂产品皆经过严谨且细致的测试,为了让时创意全系列SSD产品获得超高的可靠性,时创意推出闪存芯片RDT(reliability demonstration testing 可靠性开发测试)高温测试系统。
时创意SSD产品开发或NAND Flash主控芯片研发中通过使用闪存芯片RDT(reliability demonstration testing 可靠性开发测试)高温测试系统,让高性能、大容量的SSD固态硬盘产品,在稳定性和寿命上得到改善。
这一测试系统可以提前筛选出容易出现问题的弱块坏块并标记,避免后面把数据写到这样的弱块或坏块里,从而导致数据丢失的情况发生,通过创新的技术和严苛测试环境,该款可靠性测试系统可提前规避高温导致性能下降、数据丢失等风险,不断突破产品可靠性指标。
在极端的条件下使用,也能稳定发挥其高速读写性能,SSD固态硬盘性能和可靠性得到了优化提升,系统启动、应用加载或文件传输时出速度不受影响,使用起来更加安心可靠!
科技不断发展的今天,存储产品开始融入到我们生活的各个角落,用户对产品质量的要求也越来越高,时创意作为一家存储芯片方案解决商,为客户提供专业的存储产品定制化服务,同时要求产品离开工厂前进行相关检验,有效规避质量问题,对产品严苛,对客户负责!