【计算机组成原理实验】【存储器实验】

目录

一、实验目的

二、实验电路

三、实验原理

四、实验步骤

五、思考题


一、实验目的

(1)掌握静态随机存储器RAM的工作特性。

(2)掌握静态随机存储器RAM的读写方法。

二、实验电路

        本实验使用的主要元器件:2K×8静态随机存储器6116芯片,8位数据锁存器74LS273(本实验用作地址寄存器 AR),三态输出的8组总线收发器74LS245,与非门、与门等。

        图4-1 为本实验所用的存储器原理图, 图中尾巴上带加粗标记的线条为控制信号,其余为数据信号线或地址信号线。

(1)\overline{CE}:6116芯片的片选信号。\overline{CE}为0时,6116芯片正常工作。

(2)\overline{OE}:输出允许信号。当\overline{CE}=0、\overline{OE}=0、\overline{}\overline{}\overline{WE}=1时为读操作。

(3)WE:写信号。在\overline{CE}=0时,WE=1表示写操作,WE=0表示读操作。

(4)P1:脉冲信号。当WE=1、P1=1时,6116芯片进行写操作。

(5)LDAR:对地址寄存器AR进行加载的控制信号。当LDAR=1时是加载状态。

(6)P2:脉冲信号。当LDAR=1时,在上升沿将地址载入 AR。74LS273触发器在时钟输入为高电平或低电平时,输入端的信号不影响输出,仅在时钟脉冲的上升沿,输入端数据才发送到输出端,同时将数据锁存。

(7)\overline{SW-BUS}:开关输出三态门使能信号。当它为0

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