制造商:ISSI
产品品种:静态随机存取存储器
RoHS:是
存储容量:4 Mbit
组织:512 k x 8
访问时刻:10 ns
最大时钟频率:100 MHz
接口类型:Parallel
电源电压-最大:3.63 V
电源电压-最小:3.135 V
电源电流—最大值:20 mA
最小工作温度:- 40 C
最大工作温度:+ 85 C
设备风格:SMD/SMT
封装 / 箱体:TSOP-44
封装:Tray
数据速率:SDR
系列:IS61LV5128AL
类型:Asynchronous
商标:ISSI
端口数量:1
湿度敏感性:Yes
产品类型:SRAM
工厂包装数量:135
子类别:Memory & Data Storage
单位重量:454 mg
IS61LV5128AL-10TLI 是由 Integrated Silicon Solution(ISSI) 生产的一款 1M x 8 位高速 CMOS 静
态 RAM 芯片。其主要特点和应用如下:
主要特点:
1.工作电压:3.3V
2.读写速度:10ns
3.封装形式:TSOP-44
4.数据存储容量:1M x 8 位
5.工作温度范围:-40℃ ~ 85℃
应用领域:
1.数字电子设备:如消费类电子产品、通信设备、计算机及其周边设备等。
2.工业控制:如自动化控制系统、仪器仪表等。
3.汽车电子:如车载信息系统、导航系统等。
4.医疗设备:如医疗影像设备、监护设备等。
在电路设计中,可以将 IS61LV5128AL-10TLI 用于需要高速数据存储的应用场景。
有哪些因素会影响IS61LV5128AL-10TLI的性能表现及稳定性?
在使用 IS61LV5128AL-10TLI 时,以下因素可能会影响其性能表现和稳定性:
1.电源电压:IS61LV5128AL-10TLI 的工作电压为 3.3V。电源电压的波动可能会影响其正常工作,甚至导致数据丢失或损坏。确保电源电压的稳定性和精度对于保证其性能和稳定性至关重要。
2.地线连接:良好的地线连接对于降低噪声和提高电路稳定性非常重要。应尽量减小地线阻抗,避免地线噪声影响 IS61LV5128AL-10TLI 的性能。
3.时钟信号:IS61LV5128AL-10TLI 的读写操作依赖于时钟信号。时钟信号的质量和稳定性直接影响其性能表现。应确保时钟信号的频率、占空比等参数符合数据手册中的要求。
4.输入信号:IS61LV5128AL-10TLI 的输入信号包括地址、数据和控制信号。这些信号的电平、波形和传输路径等因素可能会影响其性能和稳定性。在电路设计中,应确保输入信号符合数据手册中的规格要求。
5.输出信号:IS61LV5128AL-10TLI 的输出信号包括数据和控制信号。输出信号的驱动能力、负载和传输路径等因素可能会影响其性能和稳定性。在电路设计中,应确保输出信号的负载匹配,避免过高的负载导致输出信号质量下降。
6.温度:IS61LV5128AL-10TLI 的工作温度范围为 -40℃ ~ 85℃。超出这个范围,其性能和稳定性可能会受到影响。在实际应用中,应确保其工作环境温度在允许范围内。
7.EMI 和噪声:电磁干扰(EMI)和噪声可能会影响 IS61LV5128AL-10TLI 的性能和稳定性。在电路设计中,应注意抑制噪声和干扰,例如使用去耦电容、屏蔽技术等。
8.耐久性和寿命:IS61LV5128AL-10TLI 的耐久性和寿命可能受工作条件、使用方式等因素影响。在实际应用中,应遵循数据手册中的建议,合理使用和维护,以延长其使用寿命。