如何用史密斯圆图进行阻抗测试？-安泰测试Agitek

史密斯圆图

当阻抗不匹配时，就要通过阻抗变换使负载阻抗和源阻抗相等，以减小反射。经常是使用smith圆图来做阻抗匹配。反射系数是一个矢量，所以反射系数相同的点会形成一个圆，一系列反射系数形成反射圆图。反射圆图上的每一个点都有唯一的阻抗特性，这样反射圆图和阻抗圆图重叠形成smith圆图。R值表示等电阻圆，Z值表示等电抗圆有，交点为Z，该点半径为反射系数模值，夹角为反射系数相位。

看右下方的Smith圆图，上面左边的点表示短路点，阻抗为0，反射系数是1，发生全反射，反射角为180度。中间点为匹配点，阻抗为特性阻抗，反射系数为0。右边点位开路点，阻抗无穷大，反射系数为1，同样也发生全反射，反射角为0度。上面是电感区，下面是电容区，然后上面还有等电阻圆，等点抗圆，等电导圆等等。

注意： 阻抗用直坐标系的话，需要看到无穷大的阻抗横轴和虚部纵轴，在仪表里显示是不现实的，所以用圆图。

圆图的周期为传输线信号波长/2。圆图旋转一圈代表传输线传输电长度为l/2，半圈为l/4。

用史密斯圆图进行阻抗测试

作为一款应用于电机与电子工程学的经典图表，史密斯圆图被广泛用于阻抗匹配、电路调试、参数计算甚至滤波器调试等用，今天我们将展示其中非常经典的矢量网分仪阻抗测试方法。