CK-S650-PA60S|PA60E半导体专用RFID读卡器|读写器针对国产HDX格式玻璃管标签识读升级说明

随着半导体行业晶圆盒采用自动化天车的搬运,为了快速实现晶圆盒的搬运准确性,以及追踪工序进度。半导体车间的FOUP上会植入一枚TI载码体,在Loadpord设备上安装一台符合支持标准工业半导体 HSMS(或者Modbus TCP)、标准工业半导体 SECS(或者Modbus RTU)、还支持 1 和 N 协议的分体式低频读卡器,用于识别FOUP上的TI载码体。

CK-S650-PA60S|PA60E半导体专用RFID读卡器|读写器针对行业应用兼容国产系列的HDX格式玻璃管标签,通过用户端升级,可愉快的兼容进口TI玻璃管标签和国产玻璃管标签。

本文重点介绍CK-S650-PA60S|PA60E半导体专用RFID读卡器|读写器针对国产HDX格式玻璃管标签识读升级说明

一、安装配置软件

确保读卡器没有连接其他设备或其他上位机,是直连电脑

二、操作步骤

1、打开配置软件

2、点击工具

3、选择串口,选择读卡器对应的串口号与波特率,点击搜索

4、搜索出来设备,有设备名、版本号显示,然后点击打开,选择更新固件文件

5、选择更新固件文件,点击打开

6、打开更新文件后,在路径下方有更新固件的信息说明,然后点击更新

7、等待上方更新条满。

8、等待下方出现更新成功提示,断电重启读卡器

9、断电重启完成后点击搜索,把设备搜索上来查看更新后固件版本是否更新成功,对应后则更新成功

至此CK-S650-PA60S|PA60E半导体专用RFID读卡器|读写器针对国产玻璃管标签识读升级完成,工程师们可以愉快地使用CK-S650-PA60S|PA60E半导体专用RFID读卡器|读写器来读取国产的HDX格式的玻璃管标签了!

内容概要:本文将金属腐蚀现象比作游戏角色受到持续伤害(debuff),并采用浓度迁移和损伤方程来建模这一过程。文中首先介绍了浓度迁移的概念,将其比喻为游戏中使角色持续掉血的毒雾效果,并展示了如何利用Numpy矩阵存储浓度场以及通过卷积操作实现浓度扩散。接着引入了损伤方程,用于评估材料随时间累积的损伤程度,同时考虑到材料自身的抗性特性。作者还提供了完整的Python代码示例,演示了如何在一个二维网格环境中模拟24小时内金属表面发生的腐蚀变化,最终得到类似珊瑚状分形结构的腐蚀形态。此外,文章提到可以通过调整模型参数如腐蚀速率、材料抗性等,使得模拟更加贴近实际情况。 适合人群:对材料科学、物理化学感兴趣的科研工作者和技术爱好者,尤其是那些希望通过编程手段深入理解金属腐蚀机制的人群。 使用场景及目标:适用于希望借助数值模拟方法研究金属腐蚀行为的研究人员;可用于教学目的,帮助学生更好地掌握相关理论知识;也可作为工程项目前期评估工具,预测不同条件下金属构件可能遭受的腐蚀损害。 阅读建议:由于文中涉及较多数学公式和编程细节,建议读者具备一定的Python编程基础以及对线性代数有一定了解。对于想要进一步探索该领域的学者来说,可以尝试修改现有代码中的参数设置或者扩展模型维度,从而获得更丰富的研究成果。
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