【蓝桥】基础练习 芯片测试

问题描述
　　有n (2≤n≤20) 块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
　　
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
　　
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路：
好芯片测试别的芯片是正确的结果，坏芯片是随机的结果，好芯片多余坏芯片。又因为第i，j位置的含义为i芯片测试j芯片的结果，则第j列为其他芯片测试芯片j的结果，若j列为好芯片，则j列的1的个数一定大于一半。

#include<iostream>
using namespace std;

int main()
{
	int n,a[20][20],count; // n:矩阵大小   a[20][20]:测试结果   count:每列 1的个数 
	cin>>n;
	for(int i=0;i<n;i++){  // 输入测试结果 
		for(int j=0;j<n;j++){
			cin>>a[i][j];
		}
	}
	for(int j=0;j<n;j++){  // 记录每列 1的个数 
		count = 0;
		for(int i=0;i<n;i++){
			if(a[i][j]==1){
				count++;
			}
		}
		if(count > n/2)  // 若该列 1的个数超过一半，则一定为好芯片 
		    cout<<j+1<<" ";  // 输出该芯片编号 
	}
	return 0;
}