数字芯片验证周期

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芯片的验证周期大致可以分为RTL0、RTL1、RTL2、RTL3、GLS和TO,下面阐述各时间节点veriifier所需要做的大致内容。

阶段目标
RTL0芯片框架和模式功能定义完成,指定验证的策略
RTL1模块和子系统的功能信号定义完成,定制需要的存储模型
RTL2完成所有模块的设计,以及80%以上的模块和子系统的验证,核心功能全部完成验证
RTL3完成芯片系统的连线集成和验证,覆盖所有的功能验证点
GLS完成门级网表的验证
SUM回顾验证的各项检查清单,最终流片
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