ADS 使用教程（八）Yield Analysis

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在上一节中，我们进行了蒙特卡洛仿真，探究了组件的公差对仿真结果的影响。但是我们目前仍不清楚有多少组件是满足我们最初的设计要求的。

所以，我们需要进行Yield Analysis（良率分析），良率分析是一种用于评估和优化电子电路设计中制造良率的方法，通过模拟制造过程中的各种不确定因素，分析电路性能在这些不确定因素下的变化情况，从而评估电路在实际制造过程中能够达到的良率。

我们需再在主设计中，先选中蒙特卡洛控制器，然后点击工具栏中的禁用蒙特卡洛分析。然后在Library Palettes中选择“Optim/Stat/DOE”，选择其中的，放入良率规范。然后选择，放入良率分析控制器。

首先，我们先从设定规范开始。双击打开编辑窗口。

我们先定义需要规范的目标参数，以dB(S(2,1))为例：

然后选择SimInstanceName为“SP1”。由于此时单位为dB，所以将最小值设为“-1”。设置RangeVar时，哟与此时X轴所表示的内容仅为频率，所以将其设定为“freq”。然后将RangeMin设为0.01 GHz，将RangeMax设为0.2 GHz。

接下来，我们需要定义良率控制器的相关参数。将NumIters（迭代次数）设为250（为了演示，实际操作中可能远高于该值）。然后我们将SaveAllIterations设为yes，将所有迭代的结果保存下来。

然后，我们需要对参数进行统计方法设计，选择“Simulate – Simulation Variables Setup”，然后选择“Statistics”选项卡，勾选需要分析的参数（该步骤在上一节教程中有详细介绍，此次不再赘述）。

点击“OK”并保存设计。然后点击进行仿真，可以看到此次仿真与蒙特卡洛仿真得到的结果十分相似：

然后，我们可以选择来添加一个表格，此时可以看到，选项中多出了几项，我们将“Yield”、“NumFail”和“NumPass”添加到表格中：

此时，我们可以看到，良率为99.6%，说明我们分析的加入损耗的电路几乎全部通过了测试。

同理，我们可以用“Ctrl + C”、“Ctrl + V”在复制一个Yield SPEC，用来分析dB(S(1,1))。由于我们不希望有太大的回波损耗，所以我们将最大值设为-15dB：

保存后再次执行仿真：

可以看到，此时良率降到了29.6%，说明有很多电路出现了故障。古刹左上角图片可以得知，在低频时由于组件存在公差，许多电路的回波损耗都大于了-15dB。

然后，为了分析传输响应，我们禁用第二个Yield SPEC，然后再复制第一个Yield SPEC，将Max设为-25，然后将频率范围修改为0.35 GHz到0.5 GHz。

现在我们只是在检查传输响应。执行仿真，我们可以看到，虽然我们在低频时有不错的表现，但由于组件公差的存在，良率仍然有所降低：

如果我们将最大值约束修改为-20，再次进行仿真，此时可以看到良率变为了100%，说明此时所有设计都已经满足要求了。

总之，良率分析可以让我们更加直观的看到在考虑组件公差的情况下电路的设计情况，同时我们也可利用其他数据据来分析哪些组件对公差更为敏感，这有助于我们更好地进行后续设计。

（To be continued......）

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