半导体分立器件静态参数测试仪系统HUSTEC-DC-2010

产品介绍            

HUSTEC-DC-2010晶体管直流参数测试系统是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的全新一代“晶体管直流参数测试系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。

脉冲信号源输出方面，高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A）栅极电压40V，栅极电流10mA，分辨率最高至1mV/30pA，精度最高可至0.5%。程控软件基于Lab VIEW平台编写，填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。产品可测试Si,SiC,GaN材料的IGBTs,DIODEs,MOSFETs,BJTs,SCRs等7大类26分类的电子元器件。涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。

产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器，还能够通过Prober接口、Handler接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。

产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为EXCEL文本。

 应用场景

Ø 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试） 

Ø 失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提 出改善方案） 

Ø 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） 

Ø 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 

Ø 量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）

 

产品特点

(1) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件； 

(2) PC 机为系统的主控机； 

(3) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面； 

(4) 自动识别器件极性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采样速率； 

(6) 程控高压源 10~1400V，提供 2KV 选配； 

(7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 选配； 

(8) 驱动电压 10mV~40V； 

(9) 控制极电流 10uA~10mA； 

(10) 四线开尔文连接保证加载测量的准确；

(11) 通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验； 

(12) Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin） 

(13) 可为用户提供丰富的测试适配器

(14) 连接分选机最高测试量为每小时 1 万个 

(15) 可以测试结电容，诸如 Cka，Ciss，Crss，Coss； 

(16) 脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需外挂升温装置；