【STM32】一次F105 USB OTG驱动填坑记录

使用MCU为STM32F105VC，新建工程，使用Keil 自带ST std库，以及ST Legacy usb otg 库，

问题一为VBUS检测的设计疏漏

问题二为usb device无法正常枚举，使用库中参考工程也是一样情况，使用CubeMX生成工程验证了硬件正常，

最终使用Legacy工程和HAL工程运行对比工作状态发现Legacy中的异常状态，检查各处差异，发现驱动中读取到的系统时钟数值异常，跟踪时钟初始化代码并对于CubeMX中时钟树，发现整个usb的时钟都是异常的，按照CubeMX中的值调整后一切恢复正常。

问题根源为Keil中CMSIS CORE文件中bug，计算中默认认为F10x CL系列单片机使用25M晶振，导致PLL倍频因子计算错误，最终导致usb时钟异常。

#ifdef STM32F10X_CL
    /* Configure PLLs ------------------------------------------------------*/
    /* PLL2 configuration: PLL2CLK = (HSE / 5) * 8 = 40 MHz */
    /* PREDIV1 configuration: PREDIV1CLK = PLL2 / 5 = 8 MHz */
        
    RCC->CFGR2 &= (uint32_t)~(RCC_CFGR2_PREDIV2 | RCC_CFGR2_PLL2MUL |
                              RCC_CFGR2_PREDIV1 | RCC_CFGR2_PREDIV1SRC);
    RCC->CFGR2 |= (uint32_t)(RCC_CFGR2_PREDIV2_DIV5 | RCC_CFGR2_PLL2MUL8 |
                             RCC_CFGR2_PREDIV1SRC_PLL2 | RCC_CFGR2_PREDIV1_DIV5);
 

按照HSE为8M来计算，将分频和倍频因子分别改为2和10.