基于SAT方法的超大规模集成电路设计——以多容量生产问题为视角

本文探讨了如何利用SAT方法解决超大规模集成电路(VLSI)设计中的多容量生产问题,通过转换视角,将电路布局视为生产调度问题,简化决策空间,提高求解效率。介绍了新视角下的关键概念,如紧凑变量范围、允许元件旋转的影响,并详细阐述了基于SAT方法的约束满足问题求解过程。
摘要由CSDN通过智能技术生成


1. 什么是 VLSI ?

超大规模集成电路设计(Very Large Scale Integration,VLSI)是将电路集成到硅芯片中的过程。随着技术进步,电路中晶体管的尺寸越来越小,单个芯片中能集成的晶体管越来越多,使得现代智能手机能够在小小的设备中包含许多先进功能。为了保持集成的尺寸合适,必须对晶体管的空间布局进行合适的选择,也即本项目所解决的问题,解决这类问题能使得电路的排列选择更加高效和自动化1

VLSI 问题描述:已知硅晶板的宽度为 w w w

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