Stm32F103R6之调试支持

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概述

SWJ调试端口(serial wire and JTAG)

利用串行接口并释放不用的调试脚作为普通I/O口

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概述

Cortex™-M3内核含硬件调试模块，支持复杂的调试操作。硬件调试模块允许内核在取指(指令断点)或访问数据(数据断点)时停止。内核停止时，内核的内部状态和系统的外部状态都是可以查询的。完成查询后，内核和外设可以被复原，程序将继续执行。

当STM32F10x微控制器连接到调试器并开始调试时，调试器将使用内核的硬件调试模块进行调试操作。

支持两种调试接口：

● 串行接口

● JTAG调试接口

图 1调试框图

SWJ调试端口(serial wire and JTAG)

STM32F10xxx内核集成了串行/JTAG调试接口(SWJ-DP)。这是标准的ARM CoreSight调试接口，包括JTAG-DP接口(5个引脚)和SW-DP接口(2个引脚)。

● JTAG调试接口(JTAG-DP)为AHP-AP模块提供5针标准JTAG接口。

● 串行调试接口(SW-DP)为AHP-AP模块提供2针(时钟＋数据)接口。

在SWJ-DP接口中，SW-DP接口的2个引脚和JTAG接口的5个引脚中的一些是复用的。

图 2SWJ调试端口

JTAG调试接口是默认的调试接口。

如果调试器想要切换到SW-DP，必须在TMS/TCK上输出一指定的JTAG序列(分别映射到SWDIO和SWCLK)，该序列禁止JTAG-DP，并激活SW-DP。该方法可以只通过SWCLK和SWDIO两个引脚来激活SW-DP接口。

指定的序列是：

1. 输出超过50个TCK周期的TMS(SWDIO)＝ 1信号

2. 输出16个TMS(SWDIO)信号 0111100111100111 (MSB)

3. 输出超过50个TCK周期的TMS(SWDIO)＝ 1信号

图 3SWJ调试端口引脚

利用串行接口并释放不用的调试脚作为普通I/O口

为了利用串行调试接口来释放一些普通I/O口，用户软件必须在复位后设置SWJ_CFG=010，从而释放PA15，PB3和PB4用做普通I/O口。

在调试时，调试器进行以下操作：

● 在系统复位时，所有SWJ引脚被分配为专用引脚(JTAG-DP + SW-DP)。

● 在系统复位状态下，调试器发送指定JTAG序列，从JTAG-DP切换到SW-DP。

● 仍然在系统复位状态下，调试器在复位地址处设置断点

● 释放复位信号，内核停止在复位地址处。

● 从这里开始，所有的调试通信将使用SW-DP接口，其他JTAG引脚可以由用户代码改配为普通I/O口