半导体物理实验 06 - | PN结正向压降的温度特性

本文探讨了PN结正向压降随温度变化的实验,通过测绘曲线确定灵敏度,并介绍了测温方法。实验以恒流条件为基础,结合原理解析,揭示了温度对半导体器件性能的关键影响。

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一、实验目的和任务

1、了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式;

2、在恒定正向电流条件下,测绘PN结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度;

3、学习用PN结测温的方法。

二、实验原理

(一)PN结正向压降与温度的关系

三、实验设备

四、实验结论

 

 

 

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