使用IEC62380和SN29500进行半导体功能安全基础失效率估计

最新推荐文章于 2024-09-26 19:41:57 发布

NewCarRen

最新推荐文章于 2024-09-26 19:41:57 发布

阅读量8.1k

点赞数 8

文章标签：人工智能网络安全功能测试

本文链接：https://blog.csdn.net/NewCarRen/article/details/126997532

版权

本文详细介绍了如何使用IEC62380和SN29500标准来估算半导体组件的基本失效率(BFR)，这是功能安全标准中量化随机硬件失效的关键。BFR估计对于计算安全失效率、高需求模式下的失效概率等指标至关重要。文章探讨了系统性与随机性失效的区别，分析了半导体产品生命周期中的失效模式，并对比了IEC TR 62380和SN29500在BFR估算上的差异，强调了选择一致的估算假设以确保比较的准确性。

摘要由CSDN通过智能技术生成

摘要

国际电工委员会(IEC)615081和国际标准化组织(ISO)26262等功能安全标准，要求半导体设备制造商解决系统性和随机性硬件失效。其中系统性失效通过遵循严格的开发流程来管理和减少。随机硬件失效必须遵守指定的量化指标，以满足硬件安全完整性等级(SIL)或汽车安全完整性等级(ASIL)。因此，系统性失效不在随机硬件失效指标计算的考虑范围内。

1、简介

基本失效率(BFR)量化了在正常环境条件下运行时半导体组件的内在可靠性。BFR通常结合温度、电压和工作小时数等因素来量化衡量组件的质量。

计算随机硬件指标（根据功能安全标准的要求）的主要输入之一是BFR，它可以通过多种技术进行估算。BFR估计技术依赖于失效模式的假设；因此，这些基本假设的差异将导致BFR估计的差异。

本文重点介绍了两种广泛接受的技术，来估算半导体元件的BFR；根据IEC 62380和SN29500分别进行估算。BFR估计是计算定量随机硬件指标的基础，包括：

•安全失效率(SFF)

•高需求模式下的每小时失效概率（PFH）；或低需求模式下的每日失效概率(PFD)

•单点失效度量指标(SPFM)

•潜藏失效度量指标(LFM)

•随机硬件失效度量指标(PMHF)

本文还概述了影响BFR的因素，并对各种技术进行了比较和对比。

2、失效类型和随机硬件失效度量指标

硬件失效可以是系统性的，也可以是随机的，如图2-1所示。系统性失效源于设计、开发或制造过程的不足，通常源于开发过程中的缺陷。硅缺陷是一种系统性失效，因为它可以在开发的设计验证阶段被检测到。例如，设计一辆汽车并指定它的车轮是方形的，将被视为系统性失效，因为该汽车无法使用该形状的车轮。通过坚持严格的开发流程，可以通过持续的流程改进，来管理和减轻系统失效——甚至完全消除它们。