朱谨年-CSDN博客

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-15 Expected values for electromechanical protection devices in low voltage

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 15：Expected values for electromechanical protection devices in low voltage networks的失效率预测模型。

2024-09-06 11:26:37 2750

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-12 Expected values for optical components

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 12：Expected values for Optical components的失效率预测模型。

2024-09-05 15:50:05 1138 1

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-11 Expected values for contactors

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 11：Expected values for Contactors的失效率预测模型。

2024-09-04 11:08:48 1554

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-10 Expected values for signal and pilot lamps

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 10：Expected values for signal and pilot lamps 的失效率预测模型。

2024-09-03 10:05:14 857

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-9 Expected values for switches and buttons

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 9：Expected values for switches and buttons 的失效率预测模型。

2024-09-02 13:56:45 694

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-7 Expected values for relays

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 7：Expected values for relays的失效率预测模型。

2024-08-30 13:36:41 1456

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-5： Expected values for electrical connections, electrical connectors

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 5： Expected values for electrical connections, electrical connectors and sockets 的失效率预测模型。

2024-08-30 09:00:00 655

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-4 Expected values for passive components

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 4：Expected values for passive components 的失效率预测模型。

2024-08-29 09:00:00 3166

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-3 Expected values for discrete semiconductors

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 3：Expected values for discrete semiconductors 的失效率预测模型。

2024-08-28 10:22:25 1984 1

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-2 Expected values for integrated circuits

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 2：Expected values for integrated circuits 的失效率预测模型。

2024-08-27 10:46:52 1752

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN 29500-1 Expected values for general

SN 29500 是西门子（Siemens）制定的一系列标准，用于电子组件的可靠性预测。标准包含多个部分，涵盖了集成电路、分立半导体、无源组件、电气连接、继电器、开关、信号和指示灯、接触器、光学组件、低压网络中的机电保护装置以及低压网络中的机电按钮、信号设备和位置开关等的预期值。本文介绍SN 29500 Part 1：Expected values for general的失效率预测模型。

2024-08-26 15:23:10 1304

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 18_Signal and pilot lamps

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十八章： Signal and pilot lamps的失效率预测模型。

2024-08-23 09:00:00 482

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 17_Switches and push-buttons

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十七章： Switches and push-buttons的失效率预测模型。

2024-08-22 10:45:21 695 1

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause16_Relays

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十六章： Relays 的失效率预测模型。

2024-08-21 15:54:26 1276

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 12-15

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十二章至十五章的失效率预测模型。

2024-08-20 11:00:11 600

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 11_Inductors,transformers and coils

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十一章： Inductors, transformers and coils 的失效率预测模型。

2024-08-19 10:20:55 607

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 10_Resistors and resistor networks

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十章： Resistors and resistor networks 的失效率预测模型。

2024-08-17 09:00:00 714

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 9_Capacitors

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第九章：Capacitors 的失效率预测模型。

2024-08-16 13:59:01 1402

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 7_Discrete semiconductors

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电学元器件可靠性失效率的基准条件失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第七章：Discrete semiconductors 的失效率预测模型。

2024-08-14 10:10:31 1664

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC 61709-Clause 6_Integrated semiconductor circuits

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电学元器件可靠性失效率的基准条件失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第六章：Integrated semiconductor circuits的失效率预测模型。

2024-08-13 14:00:56 1695 1

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 19-Energy devices, thermal management devices, disk drive

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十九章：Energy devices, thermal management devices, disk drive的失效率预测模型。

2024-08-12 09:00:00 1005

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 18-Protection devices

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十八章保护器件的失效率预测模型。

2024-08-11 09:15:56 572

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 17-Displays, solid state lamps

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十七章显示器、固态灯的失效率预测模型。

2024-08-10 09:00:00 614

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 16-Connectors

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十六章连接器的失效率预测模型。

2024-08-09 09:00:00 839

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 15-Switches and keyboards

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十五章开关和键盘的失效率预测模型。

2024-08-08 09:33:26 570

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 14-Relays

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十四章继电器的失效率预测模型。

2024-08-07 10:24:52 1516

原创 ISO 26262中的失效率计算：SN29500-Part 2-Integrated Circuits

SN29500是西门子关于电子元器件失效率预测计算的标准，包含多种电子元器件类型：集成电路、离散半导体、无源元件、开关、继电器、灯具、连接器等，通过查找表格找到各种组件类型的参考失效率和温度，如果IC在不同于参考条件下工作，需要评估实际运行条件的影响大小（包括温度、电压等），再计算出在实际运行条件下的失效率。本文介绍SN 29500 Part 2 集成电路的失效率预测模型。

2024-08-06 19:33:16 4229

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 13-Microwave passive components, piezoelectric components and

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十三章微波无源元器件、压电元器件和声表面滤波器的失效率预测模型。

2024-08-06 09:36:56 533

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 12-Inductors and transformers

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十二章电感和变压器的失效率预测模型。

2024-08-05 10:01:16 581

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 11-Resistors and potentiometers

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十一章电阻和电位器的失效率预测模型。

2024-08-03 07:48:29 1890

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 10-Capacitors and thermistors (NTC)

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十章电容器和热敏电阻器的失效率预测模型。

2024-08-02 11:01:46 1257

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 9-Optoelectronics

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第九章光电器件的失效率预测模型。

2024-08-01 11:34:45 1122

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 8-Optocouplers

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第八章光电耦合器的失效率预测模型。

2024-07-31 11:39:35 653

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 8-Transistors

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第八章晶体管的失效率预测模型。

2024-07-30 11:27:09 487

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 8-Diodes

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第八章二极管的失效率预测模型。

2024-07-29 14:40:23 1487

原创 ISO 26262中的失效率计算：IC Pin的失效率

在ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380_2 中主要介绍了封装Package失效率的计算，封装失效率反映了封装材料、工艺、设计等因素对产品可靠性的影响。如何从封装的失效率导出Pin的失效率？

2024-07-28 11:34:25 1173

翻译端到端学习用于自动驾驶汽车

2016 年 4 月，英伟达团队发表了一篇名为End to End Learning for Self Driving Cars 的论文，展示了基于CNN的端到端自动驾驶系统DAVE-2。

2024-07-27 10:25:43 121

原创 ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用

Mission profile：任务剖面，即产品在完成规定任务这段时间内所经历的时间和环境的时序描述；集成电路在工作时环境温度是在不停变化的，同时也存在运行状态和非运行状态；为此标准提出了根据任务剖面（Mission profile）以及集成电路的实际结温来评估热幅度变化、循环温度幅值等因素的影响；汽车电子元器件相关的Mission profile参考IEC TR 62380:Table 11。

2024-07-26 10:09:26 3042 4

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380-Section 7-Integrated circuits_2

在《ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380_1》中主要介绍了组件Die失效率的3种方法，并对这3种计算方法进行了对比分析，但是对于IC来说，失效并非只来源于Die故障，这篇文章用来介绍IEC TR 62380集成电路可靠性预测模型Die失效率之外的封装package和电过应力over stress的失效率。

2024-07-25 09:38:36 1329

原创 ISO 26262中的失效率计算：IEC TR 62380_Section 7-Integrated circuits_1

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。并将mission profile 温度变化的影响放入模型中予以考虑。

2024-07-24 13:52:12 1628 2

整车安全渗透测试白皮书.pdf

智能网联汽车整车安全渗透测试的白皮书，由百度和北京集度科技有限公司联合撰写。它详细介绍了智能网联汽车面临的信息安全挑战、相关法规要求、渗透测试的基本概念和重要性，以及百度与极越在整车安全、数据安全、通信安全等方面的合作实践和技术积累。白皮书还展示了如何通过深度渗透测试发现和修复潜在安全问题，以提高智能网联汽车的安全防护能力，并呼吁行业共同努力，构建安全可靠的车联网环境。

2024-08-05

Learning to Drive in a Day.pdf

2018年9月，Wayve 发表了一篇名为Learning to Drive in a Day 的论文。Wayve展示了其自动驾驶系统在短时间内学习驾驶的能力。Wayve结合了强化学习和深度学习算法，强化学习能够让系统通过试错过程自我改进，适应不同的驾驶环境和情况，而不仅仅依赖于预先收集的大量数据。该系统能够在仅一天的训练时间内，实现在复杂的城市环境中进行驾驶的能力。

2024-07-29

端到端学习用于自动驾驶汽车 End to End Learning for Self-Driving Cars

2016 年 4 月，英伟达团队发表了一篇名为End to End Learning for Self Driving Cars 的论文，展示了基于CNN的端到端自动驾驶系统DAVE-2。

2024-07-28

ISO PAS 8800-2022

ISO PAS 8800是一个专注于道路车辆人工智能（AI）安全领域的国际标准草案。它由ISO/TC22/SC32/WG14工作组制定，主要关注自动驾驶领域的人工智能安全技术。 ISO PAS 8800定义了汽车领域中安全相关的人工智能系统的安全生命周期，包括从明确AI系统的功能需求、设计、数据收集与处理、评估、安全分析到安全性保证论据的评估，直至系统的部署与持续监控等阶段

2024-07-25

Safety First for Automated Driving 自动驾驶安全第一白皮书-中文版

自动驾驶是现代汽车的关键技术之一。除了提供更广泛的交通便利性，它还有助于减少驾驶相关的事故数量。在自动驾驶时，自动驾驶车辆的安全性是最重要的因素之一。本出版物旨在对现有有关安全各方面的出版物进行补充说明，更以技术为基础概述开发期间的各项要求，以避免安全相关的危害，从而强调通过设计实现安全的重要性。此外，本出版物还旨在对这些系统的验证和确认进行充分的讨论，而目前现有文献中仍然缺少这一方面的内容。

2024-07-25

ISO 26262-2-2018

ISO 26262是一套国际标准，专门针对道路车辆的电气和/或电子系统的功能安全。这套标准定义了汽车行业中安全相关的系统开发过程，包括需求、设计、实施、验证、确认和配置管理等方面。ISO 26262旨在通过确保这些系统的功能性安全，减少或消除由于电气和电子系统故障导致的事故风险。 2018年发布的ISO 26262更新版，ISO 26262-2，是该标准系列的第二部分，

2024-07-24