DDR5 RCD/DB高速多通道误码测试仪 BERT

针对LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的误码测试仪(BERT), 适合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理层接收机信号质量完整性测试及针对DDR5协议层之功能性验证. 目前该产品有广泛的应用在各大DDR5相关的厂商中,完整的支持DDR5 DRAM Test Suite,DDR5 R-DIMM Test Suite, DDR5 RCD Test Suite,DDR5 DB Test Suite,LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客户包括: Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron,Hynix等等。

 LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

       

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

              

               Introspect新世代DDR5测试仪

主要功能:

完整的命令编码和译码功能,工程师无需了解所需的命令真值表,已完整内建在测试仪内

具备DDR5协议功能之产生器已支持DDR5之命令接口

具备DDR5协议功能之分析仪可解析DDR5 CA/CK or DQ/DQS之所有协议命令

仿真主机控制器(Host controller)以针对DRAM或是RCD之功能测试

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

接收端测试:

具备可注入干扰及抖动之码型产生器

具备Rx strobe抖动灵敏度测试

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

误码量测功能

发送端测试:

DQ 和 DQS抖动量测

  

LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

眼图量测

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DDR5RCD(Registering Clock Driver)是用于控制DDR5内存模块的关键组件之一。它负责管理和调整内存信号的时序以确保数据在内存总线上正确传输。 DDR5RCD启动流程大致如下: 1. 上电复位:当电源供应上来时,RCD会进行上电复位。在这个阶段,所有内部寄存器都会被清零并恢复到默认状态。 2. 初始化寄存器:RCD会根据预设的配置参数,将一些重要的寄存器进行初始化设置。这些寄存器包括时钟频率、时序延迟、总线宽度等。 3. 训练模式:在DDR5中,RCD支持通过训练模式来调整内存总线的时序。在启动过程中,RCD会进入训练模式,并与内存控制器进行通信,通过发送和接收训练序列来调整时序参数,以最佳化数据传输的性能。 4. 时序调整:在训练模式完成后,RCD会根据训练结果调整内存总线的时序参数。这些参数包括CAS延迟、预充电延迟等,以确保数据在内存总线上正确地被读取和写入。 5. 运行模式:一旦时序调整完成,RCD会切换到运行模式,开始正常的数据传输。此时,RCD将根据来自内存控制器的指令和信号,控制内存模块的读取和写入操作。 需要注意的是,DDR5RCD启动流程可能会因厂商和具体设计而有所差异,上述流程仅为一般情况下的示意。在实际应用中,还可能涉及其他配置和优化步骤,以适应特定的系统需求和性能要求。
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