高灵敏度压电传感器频率温度特性测量中的TEC型精密温控系统

文章提出了一种基于TEC半导体制冷技术的小型化、高精度温度控制系统,用于石英晶体微天平(QCM)的频率温度特性测量。该系统采用高精度PID控制器实现温度的精确控制和程序化自动运行,解决了现有技术中控制精度低和效率低的问题,适用于单个或少量压电传感器的频率温度特性测试。
摘要由CSDN通过智能技术生成

摘要:为解决石英晶体微量天平这类压电传感器频率温度特性全自动测量中存在的温度控制精度差和测试效率低的问题,本文在TEC半导体制冷技术基础上,提出了小尺寸、高精度和全自动程序温控的解决方案,给出了温控装置的详细结构和实现高精度温度程序控制的具体手段。解决方案在为压电传感器频率温度特性测量提供精密温控能力的同时,关键是可快速进行全过程的自动温度程序运行,由此既保证精度又提高效率。

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1. 问题的提出

石英晶体微天平(Quartz Crystal Microbalance,QCM)作为一种超高灵敏的质量检测装置,其测量精度可达纳克级,并广泛应用于化学、物理、生物、医学和表面科学等领域中,用以进行气体、液体的成分分析以及微

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