JTAG

     JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、 TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

　　JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个 TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链， 能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable。

        注： JTAG口与PC并口的连接线要尽量短，原则上不大于15cm。

　　        Flash在擦写和编程时所需的工作电流较大，在选用系统的供电芯片时，必须加以考虑。 　　④为提高对Flash的编程速度，尽量使TCK不低于6MHz，可编写烧写Flash程序时实现

通常所说的JTAG大致分两类，一类用于测试芯片的电气特性 ，检测芯片是否有问题；一类用于Debug ；一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。

　　一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只要时钟正常，就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备，如FLASH，RAM，SOC（比 如4510B，44Box，AT91M系列）内置模块的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。 　　上面说的只是JTAG接口所具备的能力，要使用这些功能，还需要软件 的配合，具体实现的功能则由具体的软件决定。

      目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口定义引脚名称描述

　　1 、 13 VCC 接电源 　　2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地 　　3 nTRST 测试系统复位信号 　　5 TDI 测试数据串行输入 　　7 TMS 测试模式选择 　　9 TCK 测试时钟 　　11　TDO 测试数据串行输出 　　12　NC 未连接

20针JTAG接口定义引脚名称描述

　　1　VTref 目标板参考电压，接电源 　　2 VCC 接电源 　　3 nTRST 测试系统复位信号 　　4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地 　　5 TDI 测试数据串行输入 　　7 TMS 测试模式选择 　　9 TCK 测试时钟 　　11 RTCK 测试时钟返回信号 　　13 TDO 测试数据串行输出 　　15 nRESET 目标系统复位信号 　　17 、 19 NC 未连接