双脉冲测试基本原理、实验和测试波形

描述

        在电路设计中,我们通常都是通过厂家提供的技术手册来了解器件的参数特性,但是手册中提供的参数都是在特定的条件下测出来的,与实际工况下会有差别,因此不能直接拿来使用。因此通过双脉冲测试,通过给定两个脉冲来测试IGBT的开关特性,进而对器件进行更准确的评估。

一、双脉冲测试能获得哪些参数

首先,双脉冲测试可以获取开关管开关过程中的参数,通过测试结果评估驱动电阻是否合适,是否需要吸收电路等。而且可以衡量开关管在实际工作中的表现,主要有反向恢复电流,关断电压尖峰,开通关断时间等。

通过观察IGBT的栅极波形,评估IGBT驱动板是否为IGBT开启提供足够的驱动电流,获取IGBT在开通、关断过程的主要参数,以评估Rgon与Rgoff的选择是否合适。

观察开通、关断过程是否有电压尖峰,评估实际应用是否需要吸收电路;评估二极管反向恢复行为和安全余量,测量母排的杂散电感。

二、双脉冲测试的原理是什么

以集成驱动电路的简化模型为例进行分析,双脉冲测试通常以半桥形式测试,所谓双脉冲就是上管保持关断,下管驱动信号给定两个脉冲从而测试下管的开关特性。如图1所示,上管两端并接一个电感,就可以测试出下管的特性及上管的反向二极管特性。

                                               图1双脉冲简化模型

三、双脉冲测试基本实验以及波形

(1)如图2,在t0时刻,门级发出第一个驱动信号,开关管饱和导通,电感电流线性上升,电流公式如下,t1时刻电流值最大,由时间t1决定电流大小。

I = (U*t)/L

                                        图2 第一个脉冲驱动信号

(2)如图3,在t1时刻,被测开关管T2被关断,电感电流由上管二极管续流,电流波形如虚线所示,此电流一般不容易检测。

                                                图3 被测T2关断

(3)如图4,在t2时刻,第二个脉冲的上升沿到达,被测开关管再次导通,续流二极管进入反向恢复,反向恢复电流会穿过开关管,在电流探头上能捕捉到这个电流。

                                      图4 第二个脉冲驱动信号

(4)如图5,在t3时刻,开关管关断,此时电流较大,因为母线杂散电容存在,电压会出现尖峰

                                           图5 被测T2第二次关断

根据上面的分析,我们可以通过双脉冲测试得到两者的二极管的反向恢复时间。开关管上升时间,下降时间等。

(5)双脉冲测试实例

用高压隔离探头测量Vce以及Vge的电压大小,用罗氏线圈测量电流Ic的大小,测试结果通过示波器进行监控;上管IGBT的Vge加负压或直接短路,因此它是关断的,只有其并联的二极管起续流作用,在实际测试过程中可以用二极管替代。

定义:

(1)二极管反向恢复时间:开关从导通状态向截止状态转变时,二极管或整流器在二极管阻断反向称为反向恢复时间,在此期间电流反向流过二极管。电流之前需要首先释放存储的电荷,这个放电时间被总的来说,反向恢复时间就是正向导通时PN结存储的电荷耗尽所需要的时间。

1、反向电源电压越小,反向恢复电流越小,电荷耗尽越慢,反向恢复时间越长。

2、正向电流越大,存储的电荷越多,耗尽时间越长,反向恢复时间越长。

3、半导体的载流子复合效率越低,寿命越长,电荷耗尽时间越长,反向恢复时间越长,整个过程,电源电压,二极管两端电压,反向电流的波形图,如下图所示,图中的trr就是反向恢复时间。

(2)IGBT开关管参数的定义:ton、td(on)、tr、toff、td(off)、tf、(di/dt)on属于IGBT的开关时间参数,直观的表征了IGBT在理想状况下的开关速度。其中,ton=td(on)+tr,toff=td(off)+tf,因此我们只要搞清楚td(on)、tr、td(off)、tf就可了,技术手册一般给的也是这几个参数

ton:turn-ON time,开通时间

td(on):turn-ON delay time,开通延时

tr:Rise time,上升时间

toff:Turn-off time,关断时间

td(off):Turn-off delay time,关断延时

tf:Fall time,下降时间

(di/dt)on:Turn-On current slope,开通电流波形斜率,单位A/us

tf、tr和td(on)、td(off)在数值上差别不大,但tr、tf是集电极电流变化范围比较大的时间断,因此对IGBT的性能影响比较大,用他们来衡量IGBT的开关速度也更实用,要限制(di/dt)on一般通过调整栅极电阻来实现。

开关时间受Ic的影响比较小,受Ig的影响比较明显,而Ig又明显受栅极电阻Rg的影响,因此Rg对开关时间是有明显影响的。Rg增大,除了会使tf略有减小以外,将使其它开关参数变长,总的影响是开关时间变长,影响趋势如图2所示,因此,要限制开关时间,可适当增大Rg,但是过大的Rg会使IGBT的适用功率频率降低,还会增加栅极驱动功率损耗。总体来看,Rg一般不超过100Ω,电流规格越大的IGBT,Rg的取值越小。

测试总结

双脉冲测试问题注意:

(1)要想获得较为精确的测量值,对测试仪器有很大要求,一般采样高压探头取Vge、Vce,罗氏线圈电流探头取Ic,对于驱动信号可以采用普通探头获得。同时,最好对探头进行校准,尽量减小测量仪器带来的误差。

(2)调整栅极电阻Rgon可以强烈的影响该过程,用以确定Rgon的数值是否合适。

(3)负载电感可以使用自己绕制的空心电感,或者购买相应的空心电感,不要使用磁粉芯电感,瞬间大电流会影响磁粉芯电感的电感值,从而对测试结果造成影响。

(4)直流侧需要高压电源,一般情况下,为保护仪器,可以用多个电容串并联,使用高压电源为电容充电,然后给被测电路供电。

(5)双脉冲信号可以用DSP或者其它信号发生器产生,测试前需使用示波器观察发生器的波形是否满足预期,以免影响测试结果。

参考原文链接:双脉冲测试的基本原理、基本实验以及波形-电子发烧友网 (elecfans.com)icon-default.png?t=N7T8https://m.elecfans.com/article/1850171.html


 

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IGBT脉冲测试代码是一种用于测试和诊断IGBT(绝缘栅极型半导体器件)的电路代码。IGBT是一种常见的高功率开关器件,常用于电力变换、驱动电机和电力电子应用中。 IGBT脉冲测试代码通过在IGBT上施加不同的电压和电流脉冲,来评估IGBT的性能和可靠性。这种测试通常包括以下步骤: 1. 设置测试电路:包括电压源、电流源、电阻、电容等元件,用于产生不同的电压和电流脉冲。 2. 初始化IGBT:将IGBT连接到测试电路,并对其进行初始化操作,例如设置初始电压和电流值,激活IGBT的控制电极。 3. 施加脉冲:根据测试要求,在IGBT的控制电极上施加不同的电压和电流脉冲,记录IGBT的响应和输出。 4. 测量和记录数据:使用合适的测量仪器,例如示波器或电压表,测量IGBT的电压、电流、功率等参数,并记录这些数据以供分析。 5. 分析和评估:根据测得的数据,对IGBT的性能、响应和输出进行分析和评估。这包括检查IGBT是否正常工作、是否有干扰、波形是否失真等。 6. 调整参数:根据测试结果,根据需要对测试电路或测试条件进行调整,以获取更准确的测试数据。 IGBT脉冲测试代码通常是通过编程语言编写或使用专门的测试设备来实现的。这种测试方法可以帮助工程师评估和验证IGBT的性能,并在实际应用中提高系统的可靠性和效率。
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