【电机控制器2】——关于三相全桥IGBT模块的双脉冲测试

前言

前段时间有参与过做双脉冲测试，因此把测试原理、目的以及具体的测试步骤简单总结一下。

对于电机控制器来说，选型验证一个新的功率模块时，所需要做的实验主要有3个，即双脉冲测试、短路测试（退饱和测试）、出流测试与结温估算。双脉冲测试用于获取功率模块的各项真实参数，在此过程中调整功率模块的驱动电阻，来改善其开通关断的各项参数（如开通时间、关断时间、尖峰电压、二极管反向恢复电流等），项目中也会用于比较不同模块的性能。

这里简单介绍一下其他实验，短路测试主要是验证当前设计的电路是否能够在发生退饱和故障的时候能够及时触发保护并报错，这里就存在两种情况：无法触发保护机制（设置触发的Vcesat过高或触发时间过长）以及保护机制触发过于灵敏（即退饱和电路电位降低得过多，设置触发的Vcedesat过低，与实际功率模块Uce的短路电压相差过多或太容易触发）。实验就是要调整退饱和电路的参数，来避免上述情况，从而达到适当触发的目的。

出流测试与结温估算通常是一起做的，用于实际测试功率模块的实际输出电流的能力，一般将不超过175°C的情况下所能输出的最大相电流作为功率模块的出流能力，这个指标也是项目当中用于评估比较不同的模块。

以下介绍的双脉冲测试的方法是用公司底层软件做好的程序来发送所需要的门极脉冲的，门机脉冲也可以用信号发生器来发送，只是测试环境搭建会更麻烦些。

一、测试原理

为了便于说明，此处几张图片参考了浅谈电力电子中的双脉冲测试_Cerman的博客-CSDN博客

以测试下管为例，分为四个阶段。

 第一阶段：t0-t1

t0时刻，对被测试的IGBT（此处为下管T2）的门极发出第一个脉冲，脉冲宽度a=t1-t0。

门极脉冲使得下管T2饱和导通，Vce=0；由于母线电压Udc接在模块上，电流Ic会经过接在上管两端的感性负载以及导通的下管T2，形成回路。
感性电流Ic会线性上升，Ic=（Udc*t）/L，t=a时取得Ic最大值（即t1时刻）。

第二阶段：t1-t2

t1时刻，第一个脉冲结束，被开通的下管T2关断，此时电感电流由上管T1的续流二极管D1进行续流，其续流电流走向如图中所示。

由于Ic测量的是下管T2的e极，因此看不到续流电流，若测量上管的c极，即可测得续流电流如图中虚线波形所示。

该阶段为两个脉冲之间的间隔，脉冲间隔时间b=t2-t1。

第三阶段：t2-t3

t2时刻，对被测试的IGBT（此处为下管T2）的门极发出第二个脉冲，脉冲宽度c=t3-t2。

门极脉冲使得下管T2饱和导通，Vce=0；由于母线电压Udc接在模块上，感性负载电流会经过接在上管两端的感性负载以及导通的下管T2，形成回路。

另一方面，由于续流电流的存在，t2时刻下管T2导通瞬间，Ic不为0；且由于下管T2导通，Udc反向加在续流二极管D1的两端，D1进入反向恢复，反向恢复电流同样流过下管T2。

感性负载电流与反向恢复电流共同构成了Ic，直到D1截止，反向恢复电流到达峰值后下降到可忽略不计，Ic=感性负载电流。

此阶段感性负载电流同样一直在上升，ΔIL=（Udc*Δt）/L，在t3时刻取得最大值。

第四阶段：t3时刻以后

t3时刻，第二个脉冲结束，被开通的下管T2关断，此时Ic较大，由于母线杂散电感的存在，Uce在下管T2关断后会出现尖峰电压。

思路

功率模块会有一个厂家标定的最大出流能力和最大母线电压，这两个数据均为峰值。

测试时，先设计好当前这组测试的驱动电阻，然后用厂家标定的两个最大值，设定好测试的最大母线电压Udc以及目标电流Ic（也可以根据项目需求来改变），再开始测试。

实验先是需要用目标Udc之下调整脉冲触发时间，直到Ic在目标Ic的±5%以内。然后用该脉冲触发时间，从100V开始，每隔50V做一次双脉冲触发并记录数据，直到达到目标Udc和目标Ic。

在此基础上，考虑到设计裕量，会在到达目标Udc后，将该值乘以1.1倍，再进行一次双脉冲触发实验。同理，对于目标Ic，也会在这些测试后，重新在目标Udc之下，调整脉冲触发时间，直到1.15Ic（或1.1Ic），来做一次双脉冲触发实验。这两种情况是模拟过流、过压的情况，记录数据后需要重点关注。

以上为一组驱动电阻对应的完成测试过程。

若测试过后，所得结果不满意，需要考虑更换驱动电阻来进行下一组测试。

二、测试目的

1.通过搭建环境，测出以上波形，可以得到设定好驱动电阻以及、给定母线电压与目标电流Ic的情况下的以下参数：（1）Uce尖峰电压；（2）续流二极管反向恢复相关参数（电压、电流、功率、损耗）；（3）开通参数（开通时间、开通损耗、开通电压最大斜率、开通电流最大斜率）；（4）关断参数（关断时间、关断损耗、关断电压最大斜率、关断电流最大斜率）。

2.通过比较给定不同驱动电阻，在方案对应的母线电压与目标电流Ic的测试条件下测得的各项参数（主要开通关断时间以及三个损耗参数），得到同一模块之下匹配度最高（损耗最小）的开通驱动电阻与关断驱动电阻；

3.通过比较不同模块在匹配度最高的情况下的损耗，判断不同模块的优劣。

三、测试环境

双脉冲测试所需要的设备与搭建的环境如下：（以测试下管为例）

1.准备好电控部分的PCBA（包括控制板与驱动板）、IGBT模块以及母线电容；

2.将IGBT模块与PCBA的驱动板进行焊接，并将母线电容与IGBT模块装配好；

3.准备一个感性负载（可以是简单的线圈），接到被测IGBT的对管两端（如测量的是下管，则需要将感性负载接到上管两端）；

4.准备高压电源，接到母线电容的两端；

5.准备好可以进行积分等数学运算、可以接高压探头（如隔离探头、差分探头）的示波器（需要至少有6个通道）；

6.准备4个高压探头，两个电流探头，电流探头量程须大于目标电流Ic的最大值；

7.准备一个程序烧录器（企业常用劳特巴赫调试器以及对应的trace32软件），以及专门为双脉冲测试所做的程序；（这一步用于发送脉冲，也可以用信号发生器来发送）

8.准备一个稳压电源以及一个供电线束，接到PCBA的供电处；

9.将4个高压探头接到测试两管的Vge、Vce，将电流探头接到上管的c极以及下管的e极；

10.除以上六个通道外，还需另外设置三个数学运算通道，分别为下管电流与Vce的乘积的积分（ms*W）（用于测量开通、关断损耗）、上管电流与Vce的乘积（KW）（用于测量反向恢复峰值功率）以及乘积的积分（ms*W）（用于测量反向恢复损耗）；

11.将示波器对应的各通道做好标签，调节好6个通道的幅值刻度；

12.设置好带宽，使得高压探头的杂波尽量少，电流探头则根据探头本身的参数设置带宽；

13.调节示波器时间刻度，触发模式设置为被测IGBT（下管）的Vge通道的下降沿触发（第一次关断时触发），触发电平根据实际情况设定（小于Vge的高电平即可）；

14.将劳特巴赫调试器通电，接到PCBA烧录口以及主控电脑；

15.打开稳压电源给PCBA供电，电脑开启trace32，将双脉冲测试程序烧录进PCBA中，进入trace32的操控界面，此时，测试环境搭载完成。

四、测试步骤

（1）说明

1.以下以Udc=480V,目标电流Ic=650A，测量下管为例（驱动电阻给定）；

2.如果通过测试程序用劳特巴赫来发送脉冲进行测试，程序中必须要有9个变量，其中3个时间变量，对应双脉冲波形中的三段时间的长度，即被测IGBT的Vge第一个脉冲宽度a=t1-t0，脉冲间隔时间b=t2-t1，以及第二个脉冲宽度c=t3-t2；

3.其余6个为flag变量，对应UVW三相的上下管；

4.操控时一般将b、c两个时间设定为固定值，通过变更a的大小来调节波形，a设定好后，会通过将测试的IGBT对应的flag位设为1进行触发；

（2）波形触发

1.将高压电源电压调到480V，电流稍稍调大即可（如20A），开启高压电源；

2.按下示波器中的single按钮，示波器进入单次触发模式；

3.在trace32控制界面设置好b、c两个值不变，根据Ic=（Udc*a）/L设置a，并将被测IGBT对应的flag位设为1（如V相下管则将第四个flag设为1），按下回车将这些值输出；

4.此时两个脉冲已输出，触发了波形，点击放大镜将示波器视角移到第一次关断附近（即t1附近），用cursor截取第一次关断附近的下管最大电流Ic’（此时下管电流即Ic），与目标电流Ic相差在±5%以内（Ic=650A即需在617.5A到682.5A之间）即可，若不在范围内，则需要调整a的大小，再次进行触发。（过大则将a调小，过小则将a调大）

5.将a调整完毕后，关闭高压电源，将其调整到一个较小值（如100V），然后按照设置好的触发参数发送脉冲，触发波形后记录实验数据；

6.此后每次均将Udc向上提高50V，并记录每个工况下的实验数据，直到480V、650A的工况。之后，再根据上文思路当中所介绍的那样，再模拟过压的情况（这里取520V）与过流的情况（650A*1.15≈750A），同样记录数据。

（3）数据记录

第一次关断附近：

1.当前已测得实际电流Ic’，电流有效值为Ic’/1.414；

2.用cursor（设为测量波形）截取下管Vce通道在高电平稳定后的电压记录在Vce，该电压应与Udc相差在±5%以内（Udc=520V即在494V到546V之间），并通过示波器的measure功能直接读取下管Vce通道的最大值记录在尖峰电压Vcemax（即第二次关断产生的峰值电压），

而辅助端子的ΔVce=Vcemax-Vce；

3.用cursor（设为测量波形）截取下管电流通道在第一次关断时的最大斜率与下管Vce通道在第一次关断时的最大斜率，记录在di/dt（off）与du/dt（off）中；

4.用cursor（设为测量波形）截取下管的Vce与电流的乘积的积分通道在第一次关断时的最大变化值，作为关断损耗；

第二次开通附近：
5.直接读取上管电流通道的最小值，记录在反向恢复电流峰值中（去除负号）；

6.直接读取上管Vce通道的最大值，记录在反向恢复电压VRM中；

7.直接读取上管电流与Vce的乘积通道的最小值，记录在反向恢复峰值功率中（去除负号）；

8.用cursor（设为测量波形）截取上管的Vce与电流的乘积的积分通道在第二次开通时的最大变化值，作为反向恢复损耗；

9. 用cursor（设为测量波形）截取下管的Vce与电流的乘积的积分通道在第二次开通时的最大变化值，作为开通损耗；（总损耗=开通损耗+关断损耗）

10. 用cursor（设为测量波形）截取下管电流通道在第二次开通时的最大斜率，并记录在di/dt（on）中；

五、结语

看到这里，你可能觉得，这个实验这么繁琐，测试环境搭建复杂、工况多、处理数据麻烦，并且参数不满意又要改驱动电阻再来一次（虽然不需要重新搭建测试环境，但是后两个麻烦还是会存在）此外还需要懂得分析开通关断的波形，而且由于是人为卡波形节点并记录数据，不同的人卡的习惯都不一样，因此存在处理数据时结果不准确的问题。

因此，现在不少公司为了避免这些麻烦，会选择找供应商专门购买一台用于双脉冲测试的设备，我所知道的比如有杭州飞仕得。一般这个设备当中，测试人员只需要搭建好测试环境，并输入测试的是上管还是下管、电压步频、目标电压电流以及触发时间，设备即可自动开始测试，设备中的程序会自动通过示波器卡好波形并处理好数据，甚至还会帮忙判断测试结果中关键参数是否达标。

有了这样的设备，做这个功率模块选型的关键测试就会轻松很多，原本需要几个星期甚至一两个月的测试几天就能做好了，虽然这样的设备并不便宜，但是对于汽车主机厂来说，能够缩短测试开发周期，确保关键器件选型的有效性，这是非常划算的事。