LMD设备规格要求
IEC-63145-20-10:2019 标准:
依据IEC-63145-20-10:2019标准,光测量设备的入瞳直径应介于2 mm至5 mm之间,且不得大于待测设备(DUT)的输出光场。同时,设备的角度精度需控制在0.1°以内,平移台的定位精度相对于光测量设备(LMD)/待测设备(DUT)应达到0.05 mm或更优。
ICDM 标准:
根据ICDM(Information Display Measurements Standard-V1.1a, 2022)标准,建议角度精度为0.05°,在特定情况下可放宽至0.1°。平移台的精度应达到显示屏幕对角线的0.1%。
LMD功能要求
成像光测量设备(ILMD)应能提供待测设备(DUT)的2D图像。为了与点光测量设备(LMD)的数据进行比较,通常需要需要根据设备不同的视场(FOV)进行笛卡尔坐标系与球面坐标系之间的转换如果。ILMD支持极坐标,则在比较时应优先使用,例如与光度计设备进行比较时。
成像光测量设备(ILMD)标准
EC-63145-20-10:2019 标准:
-
光谱范围测量范围应为380 nm至780 nm。
-
带宽应小于5 nm。
-
波长精度应小于0.3 nm。
-
2D 成像 LMD 应采用滤波器类型的 LMD。
-
2D 成像 LMD 的像素数量应不少于测量场内虚拟图像子像素数量的 4 倍。
ICDM 标准:
-
亮度测量:对于CIE A光源的亮度测量,要求测量结果的相对不确定度(考虑2倍覆盖因子)不超过4%,且在5分钟内的重复性误差不超过0.4%。此外,测量设备的相对光谱响应率与V(λ)曲线的偏差应小于或等于8%。
-
照明测量:在对CIE A光源进行照明测量时,测量结果的相对不确定度(考虑2倍覆盖因子)应不超过4%,5分钟内的重复性误差应小于0.4%。相对光谱响应率与V(λ)曲线的偏差应小于8%,且方向响应误差不超过2%。
-
色度测量:对于CIE A光源的色度测量,所有测量设备在测定CIE 1931 (x,y)色度坐标时,其扩展不确定度(考虑2倍覆盖因子)不应超过0.005,且重复性误差应小于0.002。
-
辐射亮度测量:对于覆盖380 nm至780 nm范围的光谱辐射计,其在400 nm至700 nm范围内的相对扩展不确定度(考虑2倍覆盖因子)应小于或等于2%,而在380 nm至400 nm和700 nm至780 nm范围内的相对扩展不确定度应小于或等于5%。
-
阵列探测器测量:对于CIE A光源均匀源的亮度测量,使用阵列探测器时,测量结果的相对不确定度(考虑2倍覆盖因子)应不超过4%,5分钟内的重复性误差应小于0.4%。相对光谱响应率与V(λ)曲线的偏差应小于8%,且任意10×10像素测量区域的平均值在50% ± 10%饱和度时,应与整个阵列的平均值相差在2%以内。
光度计(Goniophotometer) 标准
IEC-63145-20-10:2019标准:
-
光谱范围:380 nm - 780 nm。
-
带宽:< 5 nm。
-
波长准确度:< 0.3 nm。
-
双轴光度计。
-
角度准确度:≤ 0.1°。
-
三轴平移台:平移准确度≤ 0.05 mm。
测量场景
在不同的需求之下,或许会存在各式各样的测量场景。其中的关键要点在于究竟是采用瞳孔点(pupil point)还是眼动点(eye rotation point)来展开测量工作。当有将2D光测量设备和点光测量设备直接进行对比的需求,从而对被测试设备(DUT)的全视场予以评估时,此种情形归属于类型 3(详见表 1)。
表1 不同类型的LMD与视场组合(注:灰色框代表LMD,镜头代表DUT,之间的细线代表视场或孔径)