实验目的
了解半导体静态随机读写存储器RAM的工作原理及其使用方法。
掌握半导体存储器的字、位扩展技术。
实验要求
(1) 采用实验 8 所设计的 256 x 4 的 RAM 的结构(参考实验 8 生成器件),构成 1K x8 的存储器。根据课本第 4 章的内容自行设计实现方案。
(2) 实验 8 中,因为 RAM 的数据输入和数据输出是不同的端口,设计时不用隔离器 件。要利用 2-4 译码器 74139。
(3) 选择五个不连续的存贮单元地址,分别存入不同内容,作单个存贮器单元的读 /写操作实验。
实验步骤
(1)按要求设计并输入电路图,进行编译、引脚锁定、向 FPGA 配置下载;
(2)通过键 1、键 2 输入 RAM 的 8 位数据(选择实验台工作模式 1),键 3、键 4 输 入存储器的低 8 位地址,高 2 位地址由红色的拨码开关提供。键 8 控制读/写允许,低电 平时读允许,高电平时写允许;键 7(CLK0)产生读/写时钟脉冲,即生成写地址锁存脉 冲,对 RAM 进行写/读操作;
实验原理图
实验结果
(1)输入地址为 14,数据为 03,读写允许为 0,输入高 2 位地址为 00,输入 CLK 进 行上升沿,输出数据为 bb,符合预期
(2)输入地址为 14,数据为 03,读写允许为 0,输入高 2 位地址为 01,输入 CLK 进 行上升沿,输出数据为 bb,符合预期
(3)输入地址为 14,数据为 05,读写允许为 1,输入高 2 位地址为 00,输入 CLK 进 行上升沿,输出数据为 05,符合预期
(4)输入地址为 14,数据为 05,读写允许为 0,输入高 2 位地址为 00,输入 CLK 进 行上升沿,输出数据为 05,符合预期
(5)输入地址为 14,数据为 05,读写允许为 0,输入高 2 位地址为 01,输入 CLK 进 行上升沿,输出数据为 bb,符合预期