华大HC32F460光敏电阻实验

目录

1.实验目标

2.实验准备

3.硬件原理

4. 驱动代码

5. 主流程图

 6.实验过程

7.实验扩展

1.实验目标

       本实验主要通过对ADC的配置及编程，对光敏电阻的分压值进行采集，从而对光照强度的强弱进行判断。

2.实验准备

       硬件搭建：ZW-HC32F460-BZ标准版开发板1套

       软件搭建：MDK5.22

3.硬件原理

       通过原理图可以看出，光敏电阻与一个47K电阻串联，光敏电阻的分压值通过PA1接入到MCU进行数据采集。

       需要注意：原理图中PA1通过J39进行挑选选择，短接ADC与PHT端，此时PA1的模拟输入为光敏电阻。

4. 驱动代码

       为了简化编程，让用户快速上手，我公司针对ADC驱动文件进行了深度优化编写，提供开源的Adc.c和Adc.h以供用户使用，现将源文件关键定义及函数做说明。

【Adc.h定义】

       为了使用方便，在Adc.h中对ADC使用的常用参数进行了定义，用户可以根据自己应用进行对应修改即可。

/* ADC1 channel definition for this example. */

#define ADC1_CHANNEL_COUNT              (1u)

#define ADC1_CHANNE