【学习笔记】转置卷积学习笔记

本文详细介绍了转置卷积的基本原理,包括四个主要步骤:特征图填充、卷积核翻转、正常卷积运算。通过将卷积核转置,实现特征图的上采样。内容还涉及了普通卷积的矩阵运算表示,并指出转置卷积与普通卷积运算结果的一致性。适合深度学习和计算机视觉领域的学习者阅读。
摘要由CSDN通过智能技术生成

转置卷积:即特征图进行上采样
基本原理如下:
1.基本步骤:
(1)在输入特征图元素间填充s-1行、列0
(2)在输入特征图四周填充k-p-1行、列0
(3)将卷积核参数上下、左右翻转
(4)做正常卷积运算(填充0,步距1)
在这里插入图片描述
2.普通卷积运算:
在这里插入图片描述
写成矩阵形式计算:
即特征图展开为:在这里插入图片描述
卷积核写成卷积等效矩阵:
在这里插入图片描述
展开为C:16*4:C:16*4
在这里插入图片描述
3.转置卷积
将C转置 得到CT:
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
最终结果与图一所示结果相同

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