调试模拟I2C遇到的问题

最近一直在调模拟I2C，使用的是RTT提供的模拟I2C的驱动，工作是从STM32F302移植到STM32F103，主要的改动在于定时器和GPIO。调试几天之后发现总是没有ACK，一直怀疑是在读ACK的时候没有把SDA的GPIO配置为输入模式，但也没有去深究（太不严谨了！）。

定时器确定没有问题之后，问题肯定是出在GPIO配置上了，经过看手册发现，将stm32的GPIO配置为开漏输出，仍然可以使用读取寄存器的方式读到管脚的高、低电平（这就是开漏输出和推挽输出的区别啊）。而我将其配置为推挽输出了，这样从设备是没法将其拉低的。从中可以学些下开漏输出和推挽输出的区别。

简单介绍下推挽输出和开漏输出的区别：

推挽输出:可以输出高,低电平,连接数字器件。
输出 0 时，N-MOS 导通，P-MOS 高阻，输出0。
输出 1 时，N-MOS 高阻，P-MOS 导通，输出1（不需要外部上拉电路）。

开漏输出:输出端相当于三极管的集电极. 要得到高电平状态需要上拉电阻才行. 适合于做电流型的驱动,其吸收电流的能力相对强(一般20ma以内).
输出 0 时，N-MOS 导通，P-MOS 不被激活，输出0。
输出 1 时，N-MOS 高阻， P-MOS 不被激活，输出1（需要外部上拉电路）；可以读IO输入电平变化，此模式可以把端口作为双向IO使用。

最后，在操作eeprom的时候要注意芯片的大小，单字节地址最大可以写256个字节。如果大于256的容量就要使用双地址。\

eeprom在读写操作时，经测试即可以是单字节地址（最大256bytes）操作，也可以是双字节地址（如果大于256）操作。

是都可以进行正常读写的。

例如：读0x00地址的数据即可以是Device_Control_Write+ 0x00 + Device_Control_Read(最大读取256)

也可以是Device_Control_Write+ 0x00 + 0x00 + Device_Control_Read（最大读取2的16次方）

还要注意eeprom的WP管脚为写保护管脚，高电平为写保护状态。要将其改为低电平。