基于 TLE9879EvalKit 使用 Micro Inspector Pro

1.前言

之前参加 Infenion 的 2023 年双 11 活动，领取了一块 TLE9879 的开发版TLE9879 EvalKit，最近刚好有时间，基于这块板子体验下 Infenion 的图形可视化工具 Micro Inspector pro。

2.环境准备

硬件：

• 12V 电源
• 杜邦线
• TLE9879 EvalKit
• Micro USB 线

软件：

• Keil 5.32
• TLE987x_DFP 1.6
• Micro Inspector Pro（Version：2.1.6.202103031604）

  特别说明：

  • Micro Inspector Pro 需要通过 Infineon Developer Center Launcher 进行安装，下载地址为：https://www.infineon.com/cms/en/design-support/tools/utilities/infineon-developer-center-idc-launcher/?redirId=160101
  • 如果想要使用 Micro Inspector Pro 的所用功能，需要激活码，可以向Infenion免费申请。

3.DataScreen 功能

3.1 例程准备

测试 Micro Inspector Pro 功能选用的是 TLE987x_DFP 1.6 里面的例程《ADC1_POTI_EIM_EXAMPLE_TLE987X》，不过在使用之前，需要做一些简单的调整。

1. 从例程《ADC1_POTI_EIM_EXAMPLE_TLE987X》打开 keil，并将原本的局部变量mV改为全局变量。
2. 新增一个新的全部变量 test，并且在 ADC 的 EIM 中断里循环增加。
3. 修改后的 mian.c 如下图，最后下载编译到开发板中。
   
4. 我手上开发板靠近的滑动变阻器的 JP6 的 2 脚未连接到 VDDP，和原理图不符合。为了正常测试，需要使用杜邦线将 JP6 的 1 脚和 VDDP 引脚连接在一起。

3.2 测试仪表板功能

1. 打开 Micro Inspector Pro，点击设置按钮，按下图进行配置。
   
2. 点击 ELF 文件夹，加载之前编译生成的 AXF 文件。
   
3. 从左侧拖拽两个图形到右侧的画板。
   
4. 分别将两个全局变量拖到对应的图形上。
   
5. 分别配置两个图形的最小值和最大值。
   
6. 点击 run 按钮进行使用。
   
7. 如果不调节滑动变阻器，变量变化情况如下图。
   
8. 如果调节滑动变阻器（先变大，再变小），变量变化情况如下图。
   

4.Oscilloscope 功能

4.1 例程准备

如果需要使用 Oscilloscope 功能，需要在对应的工程添加一些驱动代码，使用说明如下。

1. 点击 Micro Inspector Pro 右上角的 Target Code 按钮，会跳转到对应的压缩包。
   
2. 将压缩包解压然后提取里面的三个文件放到一个新建的文件夹 Micro_Inspector_pro 中，并复制到之前使用的工程所在的文件夹中。
   
3. 然后在 Keil 工程树添加 probe_scope.c 文件以及包含两个 h 文件的路径
   
4. 接着在 main.c 文件中添加对应的初始化函数和采样函数，如下图所示。
   
5. 最后按下图配置好 probe_scope_cfg.h 文件里的宏定义，进行编译下载。
   

4.2 测试示波器功能

1. 按下图所示方式创建 Oscilloscope 界面，并加载上一章节编译好的 AXF 文件。
   
2. 在 Scope Settings 中对前两个通道进行配置，在下列菜单中选择对应的变量名称
   
3. 点击 run 按钮，示波器界面观察到的变量变化情况如下所示。
   

5.对比 FreeMaster

笔者之前也使用过 FreeMaster，两者各有千秋。简单对比如下：

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