存储器的概述——DRAM动态存储器

DRAM存储器

1.DRAM存储元的工作原理

SRAM存储器的存储位元是一一个触发器,它具有两个稳定的状态。而DRAM存储器的存储位元是由一个MOS晶体管和电容器组成的记忆电路,如图所示。

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2.DRAM芯片的逻辑结构

下面我们通过一个例子来看一下动态存储器的逻辑结构如图。与SRAM不同的是

1增加了行地址锁存器和列地址锁存器。由于DRAM存储器容量很大,地址线宽度相应要增加。这势必增加芯片地址线的管脚数目。为避兔这种情况,采取的方法是分时传送地址码:若地址总钱宽度为10位,先传送地址码A0~A9,由行选通信号RAS打入到行地址锁存器,然后传送地址码A10~A19,由列选通信号CRS打入到列地址锁存器。芯片内部两部分合起来,地址线宽度达20位,存储容量男1M×4位。

增加了剧新计数器和相序的控制电路。DRAM读出后必须刷新,而未读写的存储单元也要定期刷新,而且要按行刷新,所以刷新计时器的长度要等于行地址锁存器。刷新操作与读/写操作是交替进行的,所以通过2选1多路开关来提供刷新行地址或者正常读/写的行地址。

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3.DRAM读/写时序

读周期、写周期的定义是从行选通信号RAS下降沿开始,到下一个RAS信号的下降沿为止的时间,也就是连续两个读周期的时间间隔。通常为控制方便,读周期和写周期时间相等。

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4.DRAM的刷新操作

刷新周期: DRAM存储位元是基于电容器上的电荷量存储,这个电荷量随着时间和温度而减少,因此必须定期地刷新,以保持它们原来记忆的正确信息。

刷新操作有两种刷新方式:

集中式刷新:DRAM的所有行在每-一个刷新周期中都被刷新。

分散式刷新:每一行的刷新插入到正常的读/写周期之中。

5.突发传输模式

突发(Burst) 访问是指在存储器同一行中对相邻的存储.单元进行连续访问的方式,突发长度可以从几字节到数千字节不等。由于访问地址是连续的,只需要向存储器发送一次访问地址。

通过支持突发模式、快速页模式和扩展数据输出等方式,可以允许重复存取DRAM存储矩阵的行缓冲区,无须增加另外的行存取时间,提升等效数据访问速度。 

快速页模式动态存储器,它是根据程序的局部性原理来实现的。读周期和写周期中,为了寻找一个确定的存储单元地址,首先由低电平的行选通信号RAS确定行地址,然后由低电平的列选信号CAS确定列地址。下一次寻找操作,也是由RAS选定行地址,CAS选定列地址,依此类推,如下图所示。watermark,type_d3F5LXplbmhlaQ,shadow_50,text_Q1NETiBAY2h5MzIzMg==,size_15,color_FFFFFF,t_70,g_se,x_16

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JTAG(Joint Test Action Group)和SWD(Serial Wire Debug)是用于调试和测试集成电路的接口。它们提供了对芯片内部状态和数据的可编程访问。 JTAG接口由4条线构成,分别是TCK(时钟线)、TDI(数据输入线)、TDO(数据输出线)和TMS(状态线)。通过这四条线,可以操控和读取芯片内部的引脚和寄存器。JTAG接口主要用于边界扫描测试(Boundary Scan Test),可以激活芯片内所有可编程的引脚,并且能够通过向引脚写入和读取数据进行测试。 SWD接口是一种更简化的调试接口,由两条线构成,分别是SWDIO(数据线)和SWCLK(时钟线)。SWD接口可以实现与JTAG接口相同的调试功能,但使用的线路更少。SWD接口适用于资源有限的嵌入式系统,并且在调试速度方面更快。 在JTAG或SWD接口的原理图中,主要包含了相应的电气特性和连接方式。电气特性包括接口线的电压和电流要求,以及连接线路的阻抗匹配等。连接方式涵盖了接口线与芯片引脚的连接顺序、连接方式和电气特性的匹配。 根据原理图,可以明确地了解到如何正确地连接和使用JTAG或SWD接口。同时,还可以了解到接口线的连接方式和电气特性是否符合要求,以确保调试和测试的准确性和稳定性。 总之,JTAG和SWD接口原理图的解析可以帮助我们理解这些接口的工作原理和使用方式,并且能够确保接口线的连接和电气特性符合要求,以提高调试和测试的效率和准确性。
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