SCAN AC mode 与 DC mode（待完成）

最新推荐文章于 2024-07-16 11:42:55 发布
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分类专栏： IC设计
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在做 scan的时候，我们会有两种mode，一种叫DC mode，一种叫AC mode。
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DFT笔记 DC/AC mode与Func
m0_61544122的博客
08-16 2693
DFT scan可以分为DC和AC两种，区别如下图。
sm2246en,SM2246AB,sm2246XT等系列量产工具开卡工具
10-09
2.点SCAN Drive 3.点主菜单parameter 4.选择edit config 输入密码： 两个空格 5.选择auto自动识别芯片，若失败换选项-很重要（成功与否2行），或换开卡工具 6.pretest选 1行0 reference original bad 7.mode name ...
芯片测试的DC/AC/Fast/slow模式
cy413026的博客
03-22 1万+
目录 1.AC/DC介绍及区别 2.DC/ACmode (a).DCmode (b).ACmode 1.AC/DC介绍及区别 70年代到1995年这段时间里，由于芯片的工作频率很低只有20-100M，scan测试只有DCSCAN，我们就能捕捉到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后，测试科学家和工程师发现通过DCSCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有问题。其根本原因是随着制造工艺向深亚微米迈进，芯片的工作频率也提高到2...
“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试
SH_UANG的专栏m(R2)0doJj3*
05-30 4899
“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试 2015-07-08 KevinHe BriteASIC SMIC-ASIC原创，转载请注明 SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用s
时序分析基本概念介绍——scan
最新发布
qq_34326957的博客
07-16 885
scan 过程就是在scan的shift mode(scan enable=1)下，测试机台将test pattern load到scan chain上(slow clk)，然后在fast clk下进行launch和capture（AC测试）或在ate_clk(slow clk)下进行launch和capture(DC测试)。
DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解
NBA_kobe_24的博客
06-02 4424
DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解 参考： https://www.docin.com/p-2014360649.html The basic view of DFT scan chain 这图很好的理解，Pre DFT时，将 DFF 换成 scan-FF ，让电路具备三种模式的切换。 Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。 Shift mode: 此时SE=1，选择Scan模式，并注入期望的SI序列，这样可以让每个 scan cell 有一个确定的值。 然后切换回f
时钟/复位设计中的DFT考虑
weixin_41155581的博客
09-01 7656
芯片正常工作时，各寄存器使用片上的正常时钟和复位信号，但在进行scan test时，时钟和复位应该分别是来自PAD的scan_clk和scan_rstn信号，在进行前端设计时，需要加入scan mux，将芯片内部的时钟和复位bypass掉，选用scan_clk和scan_rstn. 目录1.时钟1.1 时钟源的选择1.2 时钟门控2.复位 1.时钟 时钟的设计考虑主要包括时钟源的选择和clock gating的设计 1.1 时钟源的选择 时钟可能是直接来自片上PLL/OSC产生的时钟或是经由计数器分频产生的
IC设计中的DC综合学习记录——部分问题及解决方法
u011974971的博客
07-03 4927
DC综合中遇到的问题及相应的解决方案
数字IC常见问题总结
qq_41680066的博客
11-23 1071
数字IC常见问题总结：主要包括数字IC开发人员工作中经常遇到的问题，以及数字IC应聘者经常被问到的问题。
详解DFT的scan(边界扫描)
messi_cyc的专栏
01-07 2430
scan
USB-Blaster原理图.rar_Blaster_USB Blaster_usb_usb-blaster_原理图
07-14
4. **电源管理**：USB-Blaster需要为FPGA和USB控制器提供合适的电源，这通常涉及到电压转换电路，例如使用LM1117或LT1085等线性稳压器或DC-DC转换器。 5. **信号调理**：由于JTAG信号的电平和USB信号的电平不一致，...
DFT中scan shift/launch/capture过程，launch off shfit/launch from capture & OCC
热门推荐
cy413026的博客
06-06 3万+
scan的过程解说 scan分为stuck-at和at-speed两种测试模式， item clk 说明 对应的DC/AC stuck-at 测试机提供时钟 时钟慢 静态测试 DC mode at-speed function clk 测试芯片中的延迟故障，也就是transition AC mode DC和AC模式下它们的shift是一样的，在launch和capture过...
DFT1. OCC电路浅析
Gary的IC小站
09-27 3207
纲要： 1.DC Scan and AC Scan ATPG可以使用Mentor公司的TestKompress和SNPS的TetraMAX工具产生，插入scan chain主要使用的工具是SNPS的DFT compiler，改工具嵌入在DC compiler工具之中。DC SCAN表示Normal Scan Test，测试频率低，一般那是10M-30M，其测试模型为stack-at模型。AC SCAN表示at-speed scan，测试频率较高，一般要求与芯片的实际工作频率一致。 70-95年，业
VLSI芯片电路测试分类testMode、模式、时钟复位输入输出
cy413026的博客
03-21 4164
测试分类 半导体测试就是通过测量半导体的输出响应和预期输出并进行比较以确定或评估集成电路功能和性能的过程。 根据分类标准不同可以有多种分类有以下几种分类： 1.参数测试和功能测试。 参数测试： 参数测试验证的是电路的参数是否符合要求，采用诸如电流和电压之类的参数进行测量 功能测试： 功能测试是检测被测试的电路(组合逻辑，时序逻辑，存储器)在指定的输入条件下的输出是否正确。它是基于逻辑电平的故障检测，逻辑电平值通过测量原始输出的电压来确定，因此功能测试实际上是电压测试。(VLSI...
[DFT]Scan mode & ATPG
元直的博客
01-30 9578
Scan mode & ATPG 前言：Testability用来表征一个manufactured design的quality。 将testability放在ASIC前端来做，成为DFT(Design For Test)，用可控(controllable)可观(ob...
jpeg_compress_struct
06-08
`jpeg_compress_struct` 是 libjpeg 库中的一个结构体，它包含了压缩 JPEG 图像所需的所有参数和选项。该结构体的定义如下： ```c typedef struct jpeg_compress_struct { struct jpeg_error_mgr * err; /* 错误处理器 */ struct jpeg_memory_mgr * mem; /* 内存管理器 */ struct jpeg_destination_mgr * dest; /* 输出数据处理器 */ JDIMENSION image_width; /* 图像宽度 */ JDIMENSION image_height; /* 图像高度 */ int input_components; /* 输入图像的颜色分量数 */ J_COLOR_SPACE in_color_space; /* 输入图像的颜色空间 */ jpeg_component_info * comp_info; /* 颜色分量信息 */ JQUANT_TBL * quant_tbl_ptrs[NUM_QUANT_TBLS]; /* 量化表指针 */ JHUFF_TBL * dc_huff_tbl_ptrs[NUM_HUFF_TBLS]; /* DC 熵编码表指针 */ JHUFF_TBL * ac_huff_tbl_ptrs[NUM_HUFF_TBLS]; /* AC 熵编码表指针 */ UINT8 * script_space; /* 算法脚本空间 */ size_t script_space_size; /* 算法脚本空间大小 */ int num_scans; /* 扫描数 */ const jpeg_scan_info * scan_info; /* 扫描信息 */ BOOL raw_data_in; /* 是否为原始数据 */ BOOL arith_code; /* 是否使用算术编码 */ BOOL optimize_coding; /* 是否优化编码 */ int smoothing_factor; /* 平滑因子 */ J_DCT_METHOD dct_method; /* DCT 变换方法 */ int restart_interval; /* 重启间隔 */ int restart_in_rows; /* 以行数为重启间隔 */ J_BUF_MODE buffer_mode; /* 数据缓冲模式 */ J_COLOR_TRANSFORM color_transform; /* 颜色转换方法 */ BOOL progressive_mode; /* 是否为渐进式扫描 */ int max_h_samp_factor; /* 采样因子的最大水平值 */ int max_v_samp_factor; /* 采样因子的最大垂直值 */ JDIMENSION total_iMCU_rows; /* 图像的总 iMCU 行数 */ JSAMPLE * sample_range_limit; /* 量化范围限制器 */ /* 还有一些其他的成员，比较少用到 */ } jpeg_compress_struct; ``` 这个结构体中的各个成员变量用来描述压缩 JPEG 图像所需的各种信息，包括输入图像的宽度和高度、颜色空间、颜色分量的信息、量化表、熵编码表、算法脚本空间等等。在使用 libjpeg 库进行 JPEG 图像压缩时，需要创建一个 `jpeg_compress_struct` 结构体，并对其中的成员变量进行设置，然后再调用相应的函数进行压缩操作。
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