晶振不起振的三个经验分享

2015年做了两款产品，遇到三次晶振故障的异常，现总结如下：

1.超声波焊接时共振损坏晶振
某睡眠记录器使用了32MHz的外部晶振，纽扣电池供电，免充电待机一年，外壳是使用32K超声波焊接的，生产过程中出现了大量的不良，后来分析原因：是因为焊接时该晶振已经在工作，跟超声波的频率发生了共振；
2.晶振跟MCU距离太远
某助眠灯，8M晶振不起振，各种更换外部电容都不work，原因是该晶振距离MCU有差不多18mm远；
3.晶振外部电容不匹配
还是助眠灯，32.768K的晶振 ，起振时间长，平均6S以上才能正常起振，起振后通过示波器看到的波形很嘈杂，该晶振距离MCU10mm左右，将原来的22pF电容更换为6.8pF后，1S内起振，且波形平滑；如下图：

通过上图，可以看到，这时候的波形很嘈杂，而且振幅只有100mV左右；

此时的波形较平滑，而且振幅有300mV左右；

晶振部分的故障，通过示波器能直观的看到波形，可以作为我们解决该部分问题的主要手段；波形是否平滑，振幅是否足够（一般我认为晶振振幅要在200mV以上），这样才能判断晶振工作状态是OK的，不能盲目的说上电后MCU能工作就认为设计的没问题；
32.768晶振电容不匹配的问题，我们打样的时候是好好的，但量产的时候才大量的暴露出来；由于焊接或元器件一致性差异都会对晶振工作状态造成影响，甚至手工焊接和机器贴装的结果都不一样，应该多检测若干批次晶振部分的工作状态；