硬件工程师之电子元器件 — 电容（2）

写在前面

因此系列篇幅较长，故电容部分拆分为4个部分进行讲解，持续更新，敬请期待(*^▽^*)

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2. 电容

2.3 电容的参数

2.3.1 电容的标称容量

电容器标注的电容量被称为标称容量。电容的单位是法拉，简称法，符号是F。

常用的电容单位有毫法（mF）、微法（μF）、纳法（nF）和皮法（pF）等。

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例：标称容量是100nF

AC0805JRX7R9BB104：100nF± 5%

电容器的实际静电容量值随着直流(DC)与交流(AC)电压而变化的现象叫做电压特性。主要分为直流偏置特性和交流电压特性。

2.3.2 电容的精度

电容的精度表示标称容值与实际容值的差值跟标称容值之比的百分数。电容的精度主要有±0.1pF、±0.25pF、±0.5pF、±1%、±2%、±5%、±10%、±20%等。

以YAGEO的AC系列的贴片电容为例，B/C/D/F/G/J/K/M分别代表±0.1pF、±0.25pF、±0.5pF、±1%、±2%、±5%、±10%、±20%的精度。

2.3.3 电容的工作电压

工作电压指在规定的工作温度范围内，电容长期可靠地工作，它所能承受的电压。在交流电路中，要注意所加的交流电压最大值不能超过电容的直流工作电压值。

以YAGEO的AC系列的贴片电容为例，不同代码代表不同的额定电压。

代码	额定电压	代码	额定电压
5	6.3V	A	200V
6	10V	Y	250V
7	16V	B	500V
8	25V	Z	630V
9	50V	C	1000V
0	100V	D	2000V

需要注意的是工作电压裕量的问题，一般控制在15%以上。如电路中的电压是5V，那么选型的时候考虑的电压为5V*1.15=5.75V，最终选择的电容工作电压为6.3V以上。

2.3.4 电容的工作温度

工作温度指电容在正常工作下的温度，一般是温度范围区间。

由于电容的介电材料的特性，电容周围温度的变化会影响其电容容量，从而影响电路的正常运行。工作温度越高，电容的寿命越短。

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，其工作温度为-55℃~+125℃，如下图所示：

以EMVH500ARA101MJA0G铝电解电容为例，其工作温度为-40℃~+125℃，如下图所示：

2.3.5 电容的直流偏压特性

电容的直流偏压特性指的是电容在施加直流电压后，电容容值变小的特性。

• 以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，0805/50V/100nF，其直流偏压特性如下图所示：

从上图可以看出，在电容上施加20V电压时，其容值下降了11%，变成了100nF*（1-0.11）=89nF。

• 以AC0805JRX7R9BB103贴片电容为例，0805/50V/10nF，其直流偏压特性如下图所示：

从上图可以看出，在电容上施加20V电压时，其容值下降了2%，变成了10nF*（1-0.02）=9.8nF。

• 以AC0805JKX7R0BB104贴片电容为例，0805/100V/100nF，其直流偏压特性如下图所示：

从上图可以看出，在电容上施加20V电压时，其容值下降了9%，变成了100nF*（1-0.09）=91nF。

• 以AC1206JRX7R9BB104贴片电容为例，1206/50V/100nF，其直流偏压特性如下图所示：

从上图可以看出，在电容上施加20V电压时，其容值下降了6%，变成了100nF*（1-0.06）=94nF。

通过上面四个型号的比较可以看出：

相同耐压下，电容容量越大，其直流偏压特性越明显；

相同电容容量下，不同耐压，其直流偏压特性差别不大；

相同电容容量和相同耐压下，封装越小其直流偏压特性越明显。

2.3.6 电容的温度系数

电容的温度系数（Temperature Coefficient of Capacitance 简称TCC）是指在给定的温度间隔内，温度每变化1℃时，电容的变化数值与该温度下的标称电容的比值。

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，其温度系数如下图所示：

贴片电容的温度稳定性通常分为NPO、COG、X5R、X7R、X7T、X8R、X6S、Y5V、Z5U等。这些代码由美国电工协会（EIA）标准确定，分别代表了不同温度特性的电容器类别。

详细的区别后期会做个专题详细讲解~~~

2.3.7 电容的等效串联电阻

等效串联电阻缩写为ESR（Equivalent Series Resistance）。

理想的电容本身不会有任何能量损失，但实际上，因为制造电容的材料有电阻，电容的绝缘介质有损耗。这个损耗在外部表现为就像一个电阻跟电容串联在一起，所以称为“等效串联电阻”。如下图所示：

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，其ESR如下图所示：

由图中可以看出，

当频率低于10KHz时，ESR都比较大；

当频率大于10KHz低于10MHz时，ESR随着频率的增大而减小；

当频率大于10MHz时，ESR出现拐点，随着频率的增大而增加。​​​​​​​

以EMVH500ARA101MJA0G铝电解电容为例，其ESR如下图所示：

由图中可以看出，铝电解电容整体的ESR都比较小。当频率低于100KHz时，ESR都比较小，更有优势。

有些电容的规格书上会用Dissipation factor（损失角正切值，tanδ）来描述ESR的影响。

Dissipation factor（tanδ）可以理解为ESR与容抗（Xc）的比值，即：tanδ=ESR/Xc。

以EMVH500ARA101MJA0G铝电解电容为例，Dissipation factor（tanδ）在120Hz@20℃的情况下最大值为0.14。

实际上，不同种类的电容在不同频率下，阻抗有很大的差异，如下图所示：

在常规滤波电路中会看到大电容并联小电容同时使用，这种搭配使用的原因是铝电解电容在高频的情况下ESR比较大，几乎无法滤波，所以需要使用小电容在高频上的低ESR优势，如下图所示：

2.3.8 电容的等效串联电感

等效串联电感缩写为ESL（Equivalent Series Inductance）。

早期的卷制电感经常有很高的ESL，容量越大的电容，ESL一般也越大。ESL经常会成为ESR的一部分， 并且ESL会引起串联谐振等现象。但是相对电容量来说，ESL的比例很小，出现问题的概率也很小，后来由于电容制作工艺的提高，现在已经逐渐忽略ESL。等效电路如下图所示：

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，其ESL如下图所示：

2.3.9 电容的绝缘电阻

理想情况下，电容的两极板间是完全绝缘的，在外加直流电压作用下，不会有电流流过。但实际上，电容两极板间的介质材料并非绝对绝缘，这种不完全绝缘性质，呈现出一定的电阻，这个电阻称为绝缘电阻。

电容器的绝缘电阻为电容器充电一分钟后所加的直流电压和流经电容器的漏电流之比。

R=U/I

由于它等效于并联在电容两引脚之间的电阻，所以也称为等效并联电阻EPR (Equivalent Parallel Resistance)。绝缘电阻值通常比较大，一般达MΩ级。绝缘电阻越大，电容质量越好。如下图所示，R1即是绝缘电阻。

绝缘电阻的单位通常用电阻［MΩ］或CR乘积［Ω･F］、［MΩ･μF］表示。

以AC0805JRX7R9BB104贴片电容为例，其绝缘电阻最小为5GΩ，如下图所示：

可通过绝缘电阻的规定值和产品额定电压，利用公式I=U/R推算出漏电流，如下所示：

I=U/R=50V/5000MΩ=0.01uA

由此可见AC0805JRX7R9BB104贴片电容的漏电流在0.01uA以下。

绝缘电阻是一个不稳定的电气参数，它会受各方面因素的影响而变化。

内部影响因素主要有电容器的介质材料、介质面积、介质厚度和制造工艺。

• 介质材料不同，其绝缘特性也不同，因此绝缘电阻不同。
• 介质面积越大，电容器的容量越大，电容器的绝缘电阻越小。所以介质面积越大的电容器其绝缘电阻越小。
• 介质厚度越厚，电容器的绝缘电阻越大。
• 当介质材料掺入杂质时，会导致其绝缘电阻变小。

外部影响因素主要有温度和电容器的表面状态。

• 当温度升高时，介质材料会发生变化，导致其漏电阻变小。
• 当电容器的容量较小时（<0.1μF），其绝缘电阻主要取决于电容器的表面状态。湿度越大，绝缘电阻越小。电容器的表面受污染时，绝缘电阻变小。

2.3.10 电容的漏电流

电容器的漏电流是由绝缘电阻产生的。绝缘电阻越小，漏电流越严重，电容漏电流会使电容发热影响其寿命，从而影响电路的工作。所以绝缘电阻越大，电容质量越好。

当直流电压直接施加在电容器后，突入电流（也称充电电流）的流量如下图所示。随着电容器逐渐被充电，电流呈指数降低。

电流I(t)随时间的增加可分为三类，即充电电流Ic(t)、吸收电流Ia(t)和漏电电流Ir。

I(t) = Ic(t) + Ia(t) + Ir

充电电流表明电流通过一个理想的电容器。与充电电流相比，吸收电流有一个延迟过程，并且在低频范围内伴随有介电损耗、造成高介电常数电容器（铁电性电容器）极性相反并在陶瓷与金属电极界面上发生肖特基障垒。

漏电电流是在吸收电流的影响降低后，在一定阶段出现的常数电流。

以EMVH500ARA101MJA0G铝电解电容为例，其漏电流最大为50uA，如下图所示：

2.3.11 电容的寿命

电解电容器的寿命通常受环境温度和纹波电流的影响。温度越高，电容器的寿命越短。纹波电流越大，电容器的寿命也越短。

阿列纽斯方程是用来描述化学物质反应速率随温度变化关系的经验公式。因电解电容内部是由金属铝和电解液等化学物质组成的，所以电解电容的寿命与阿列纽斯方程密切相关。

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