STM32L4 Series self-test library 初探

最新推荐文章于 2024-04-19 09:33:07 发布

ggzzc

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分类专栏：功能安全文章标签：嵌入式

本文链接：https://blog.csdn.net/ggzzc/article/details/122616502

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1.STM32CubeProgrammer使用

使用STM32CubeProgrammer的命令行模式之前，需把STM32_Programmer_CLI.exe的目录添加到环境变量PATH中。

-sl命令：通过添加加载区(段)来修改固件文件，加载区(段)中包含有用户程序计算出的CRC值。

-sl <file_path> <start_address> <end_address> <slice_size>

<file_path>：文件路径(bin、elf、hex或Srec)

<start_address>：闪存起始地址

<end_address>：闪存结束地址

<slice_size>：每个CRC值对应的数据区块大小

闪存程序存储器分为多个slice,对于每个片段分别计算CRC值并将其置于CRC区域中，CRC区位于闪存末尾。CRC区域中的CRC值根据闪存中用户程序的位置依次放置。

IDE的命令行添加后处理命令：STM32_Programmer_CLI.exe -sl "$PROJ_DIR$\Release\Exe\Project.bin" 0x08000000 0x08040000 0x400

CRC区域的地址和大小确定如下：

CRCs_Area_Size = Flash_Size / Slice_Size * 4 bytes, so 0x40000/0x400*4=1 Kbytes

CRCs_Start_Address = Flash_End_Address - CRCs_Area_Size, so 0x08040000-0x400=0x803FC00

执行此命令，先扩充bin至256KB，每1KB计算一个4bytes CRC值，放在0x803FC00开始的地方。

CRC区域内的CRC范围地址计算如下：

@=CRCs_Start_Address+(UserProg_Start_Address-Flash_Start_Address)/Slice_Size*4 bytes

2.X-CUBE-STL self-test libraries

1.ST分别提供了对应的功能安全设计包：

SIL功能安全设计包，针对IEC61508标准，覆盖STM32系列产品。

ASIL功能安全设计包，针对汽车行业的ISO26262标准，支持STM8AF系列MCU。

ClassB功能安全设计包，针对家电应用领域的IEC60335-1/60730-1标准，覆盖STM32和STM8系列产品。

2.使用X-CUBE-STL 自检库，单个STM32最高可以满足SIL2的要求，要达到SIL3系统必须是两颗STM32的1oo2架构，保证当一颗MCU出现故障后，系统还可以正常工作。

3.ST提供的SIL自检库只是实现功能安全所需的安全机制的子集。用户可以将自检库压缩包中的库文件添加到实际工程中，该自检库仅包括对CPU,FLASH和SRAM这些与具体应用无关部分的检测。用户还要再根据实际工程的需要，参考安全手册中列出的安全检测机制，自己通过代码实现其他的检测。比如用到了中断或者I2C，而且跟安全功能相关，就要根据安全手册中这两部分的内容，添加额外检测代码。

4.与终端用户的具体应用无关，与编译器无关，与HAL、STD、LL等库无关，与BSP、CMSIS无关。官方使用HAL库，此测试使用LL库进行。

5.The claimed diagnostic coverages of medium (90%) for CPU and RAM tests and high (99%) for ROM test can be confirmed.

6.终端用户必须满足Table 7. Conditions of use for X-CUBE-STL-F4所有条件，因为任何关于诊断能力的声明都是基于此假设。

3.测试项

3.1 CPU

CPU的测试包括以下内容：

• TM1: implements the test of general purpose register

• TM1L: implements a simplified version for the test of general purpose register

• TM2: implements the test of arithmetic functions

• TM3: implements the test of multiplier functions

• TM4: implements the test of control flow instructions

• TM5: implements the test of load/store unit(s)

• TM6: implements the test of shift and rotate functions

• TM7: implements the test of both stack pointers, MSP and PSP

• TM8: implements the test of pipeline functions

• TM9: implements the test of the Arm Cortex M4 DSP functions.

• TM10: implements the test of the FPU register bank. This TM must not be used by the application unless the FPU is activated.

• TM11: implements the test of the FPU functions. This TM must not be used by the application unless the FPU is activated.

TIM1和TIM1L可以任选一项。

另外有两项测试比较特殊：TM8 and interrupts TM11 and specific FPU interrupt。

3.2 Flash

定义了4种Flash区域类型：

Block，连续的4字节(FLASH_BLOCK_SIZE)区域，在STL中固定写死。

Section，连续的1024字节(FLASH_SECTION_SIZE)区域，与物理扇区无关，在STL中固定写死。

Binary(用户程序),编译器提供的连续的一段代码区，往往从段首(每个1024字节区域的开始)开始，但结尾不一定用完一整段，所以需要32位对齐。

Subset，除CRC数值以外的可用连续区域。用户程序可以定义一个或多个Subset，一个subset必须位于Binary区域内，起始地址以32位对齐。当Subset的最后Section是Binary的最后一部分时，该部分可能不完整，用户应用程序必须将Subset的末尾与Binary区域的结束地址对齐。如果一组完整的section被单独测试，Subset的结束地址必须与最后一个测试section的结尾对齐。

Subset size = K * FLASH_SECTION_SIZE+ L * FLASH_BLOCK_SIZE

– K is an integer ≥ 0

– L is an integer < (FLASH_SECTION_SIZE / FLASH_BLOCK_SIZE) – only when the last section of a binary is incomplete

即子集大小为：0或多个1024字节区域加总和小于1024字节的若干个4字节区。

计算Flash的N值要参考map文件，要使得EndAddr正好是用户程序的最后地址，否则测试不通过。

Unused ranges:

From To Size

0x800'8f00 0x803'ffff 0x3'7100