1508_FUSA_单片机MCU安全测试中的存储测试常用方法

全部学习汇总： GitHub - GreyZhang/g_FUSA: some learning notes about function safety. Inlcude both ISO26262 and IEC61508

接着之前的内容继续看，这次把MCU安全测试中的存储测试单独拿出来。这个功能相对来说独立一些，也是存储测试以及校验比较通用的一些技术方法。

首先是非易失性存储的测试，包括Flash以及EEPROM等都属于这一类测试。这一类的存储通常是不会轻易发生变化的，尤其是在运行的过程中一般是不变的。因此，测试的时候一般是通过对内容进行校验来进行测试。

首次运行的时候，可以先把相应的存储进行一次校验，校验和写入到Flash或者EEPROM中作为一个参考值。后续的检查只做校验不做写入，这样，如果存储内容发生了变化便可以通过跟存储的参考值比较发现。

校验的方法很多，比较常用的就是CRC校验，而这种校验方式不管是从纯软件的角度还是利用某些高级MCU带有的CRC计算模块来计算都是可以的。

除此之外，其他的校验方式以及标记的流程都是可以视情况进行按需定制的。

关于RAM的检查，其实是有两大类的。第一种是一次性的检查，第二种是周期性的检查。这里给出来的三种MARCH算法都是偏一次性检查的，而CHECKBOAR的模式则可以灵活用在动态周期性的检查上。

MARCH的检查基本上是通过对存储单元的读写判断来实施的，但是MARCH一般不会测试堆栈部分的存储，因为这部分在软件运行的过程中可能由于算法本身导致变化。但是，这里也给出了一个stack检查的接口，后面需要分析一下实现，感觉上应该不是纯粹的C语言算法可以做到的。

上面总结了一下MARCH C的基本的过程，基本上就是6步。这样的过程除了第一步骤和最后一步之外，基本都是对前面的写入进行读取测试，然后写入新的数值。这种方式可以检查存储卡死、升序写入问题、降序写入问题、转换错误以及耦合性错误。

这种算法是一种破坏性的算法，因为写入的是整个存储区，没有其他的存储或者寄存器可以作为原始数据的保存缓冲区。因此，实施通常来说是启动的时候检查一次。

这个跟MARCH C几乎一样，只是少了一个最后的检查步骤。因此，这个效率会高一些，但是似乎会少一点准确度。

MARCH B能够检查出来的问题跟MARCH C是有不同的，比如说关联耦合以及翻转耦合等。本质上来说，操作判断的方式都是测试不同的写入或者读取是否生效。但是背后的机理的确是不容易的，之前我看了一个存储检查分析的报告，感觉这样的序列的得出的确是有很大的研究基础才行。

这个检查也是破坏性的，因此还是用在开始或者结尾会比较好一些。

这个是CHECKBOARD的算法，这个算法其实是利用了CPU的寄存器。因此，在实施的时候应该还是得借助于汇编来实现才行。但是，不同于前面的集中算法，这种算法是可以实现非破坏性的检查的。检查的大小一般来说是有一定的限制的，我觉得这种限制主要的现致电应该是在于寄存器本身能够提供的缓存空间。

以上就是几种简单的存储测试的方法，了解后会觉得十分容易。但是在实施的过程中，毕竟还是有自己的独到之处，比方说可能会涉及到一些汇编的处理。这对于新手来说多少还是有一些挑战难度的。