Multisim 仿真 DC Sweep 双源嵌套扫描嵌套

Multisim仿真工具箱里头有DC Sweep分析方法，分析中可以对两个源参数扫描分析

类似于编程的循环嵌套：

for( Source 2 : start value; ++ Increment;  Source 2 : stop value;)
{
    
    for( Source 1 : start value; ++ Increment;  Source 2 : stop value;)
    {
        ... //to do

    }

    draw line // Source1 做横坐标，Ouptput中的量为纵坐标
}

也就是Source 2是大循环，内部嵌套Souce 1的小循环；

利用DC 扫描，可以做出MOSFET的输出特性曲线

 

官方datasheet中的输出特性曲线图：

https://download.csdn.net/download/hongqi1029/90591950

2N6659输出特性曲线Multisim仿真