正余弦信号的DFT频谱分析

本文探讨了正余弦信号在进行DFT运算时出现的频谱泄漏现象,并通过MATLAB实验展示了不同采样点数(如20、22、24、25、64、1024等)对频谱的影响。当采样点数为信号完整周期数时,频谱更为清晰。提高频谱分辨率的方法包括增加采样点数和使用补零技术。增加DFT长度可以提高视在分辨率,但无法消除频谱泄漏。
摘要由CSDN通过智能技术生成

一般的,对正余弦信号进行采样并DFT运算,画出频谱图,会发现频谱并不干净。这种现象称为频谱泄漏。因为DFT运算只能是有限序列,突然的截断产生了泄漏。

会有这样的特殊情况,当采样截取的刚好是整数个周期,则频谱图显得特别干净。可以理解为刚好取的完整周期,周期性明显了,频率就比较单一。

为此做了matlab实验:

ts = 0.01;%采样率100Hz

n = 0:N-1;

y = sin(2*pi*20*n*ts);%20Hz信号,每周期采5个点

xk = abs(fft(y,N));%注意根据fft算法,这里的N和序列长度N是一样的

stem(xk);

当N = 20、22、24、25时的频谱:

因为20和25是5的倍数,取的周期是完整的,所以频谱是干净的。这就是所谓的特殊情况。

但一般的,取不到完整的周期,频谱泄漏是避免不了的。而且泄露的严重了会影响分辨能力。那么接

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